Kurt J. Lesker Company Mini SPECTROS™是基于主力SPECTROS平臺(tái)的下一代薄膜沉積系統(tǒng)。SPECTROS平臺(tái)在全球擁有100多臺(tái)設(shè)備,是一種成熟、堅(jiān)固和多功能的設(shè)計(jì)。Mini SPECTROS建立在原始設(shè)計(jì)的成功基礎(chǔ)上,改進(jìn)了系統(tǒng)基礎(chǔ)壓力和抽空時(shí)間。技術(shù)的腔室設(shè)計(jì)、具有高級(jí)編程功能的行業(yè)最佳軟件控制系統(tǒng)、實(shí)時(shí)配方線程操作以及用于優(yōu)化薄膜性能的眾多功能,這些都是這種創(chuàng)新的設(shè)計(jì)提供的一些關(guān)鍵優(yōu)勢。®
Mini SPECTROS™與以下技術(shù)兼容:
1cc 或 10cc LTE 信號(hào)源(除熱源外,最多 4 個(gè)信號(hào)源)
4 英寸熱源(除 LTE 源外,最多 4 個(gè)源)
TORUS 磁控濺射源(最多 6 個(gè) 2“ 或 3" 離子源)®
電子束蒸發(fā)源(4口袋8cc,8口袋12cc,6口袋20cc)
上述技術(shù)的組合也可用。
可根據(jù)要求提供定制配置
TORUS離子源在典型的濺射壓力(< 20 mTorr)下運(yùn)行,并利用硅晶圓進(jìn)行沉積。氧化硅®2目標(biāo)運(yùn)行射頻功率,膜厚 >=500?。鋁目標(biāo)使用直流電源運(yùn)行,膜厚 >=1500?。Ni Target 使用高強(qiáng)度 TORUS 和直流電源運(yùn)行,膜厚 >=1500?。®
KJLC 電子束沉積運(yùn)行利用 Si 晶圓進(jìn)行沉積。Ti蒸發(fā)材料,膜厚>=1500?。
所有薄膜均在正確校準(zhǔn)的輪廓儀、反射儀或橢圓儀(如果適用)上進(jìn)行測量。
測量點(diǎn)從基板的中心開始,然后每 0.5 英寸(12.7 毫米)徑向外徑向外,標(biāo)稱值(右側(cè)參考圖)。
均勻性計(jì)算公式為:((最大 - 最?。?(2 x 平均值)) x 100%,帶 0.2 英寸 (5mm) 邊緣排除。