OmniScan X4相控陣探傷儀應(yīng)用|啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司提供良好的解決方案

有意義的圖像

更快更果斷地做決定

除了相控陣超聲波測(cè)試技術(shù)，所有OmniScan X4型號(hào)都標(biāo)配相位

相干成像（PCI）、全聚焦法（TFM）和平面波成像（PWI），以及它們的易用性

使新用戶更容易訪問它們。使用多種工具提供有關(guān)適應(yīng)癥的更多信息

增加你對(duì)評(píng)估的信心。

查看Phase的更多詳細(xì)信息

相干成像

識(shí)別和解釋具有挑戰(zhàn)性的缺陷，如鉤子

利用PCI的容量進(jìn)行果斷有效的破解

清晰地表示難以檢測(cè)的缺陷。使

對(duì)諸如應(yīng)力等細(xì)微缺陷的準(zhǔn)確評(píng)估

腐蝕開裂（SCC），因?yàn)榛谙嗟腜CI是遠(yuǎn)

較不容易受到相鄰缺陷的衰減

amplitude-based技術(shù)。因?yàn)檠苌?/p>

SCC是由PCI加重，你可以更容易

描述每個(gè)裂縫的深度并利用該軟件

蓋茨能夠迅速找出最深層的缺陷。

高達(dá)3倍更快的TFM

利用酥脆提高你的工作效率

TFM提供的定義甚至焦點(diǎn)。根據(jù)

在配置中，OmniScan X4系列的TFM已啟動(dòng)

比它的前身（omnican）快三倍

X3 64模型)時(shí)使用稀疏射擊模式。

雙面焊縫檢驗(yàn)

雙TFM和PCI

給你的焊接證明了一個(gè)效率提高使用雙胞胎

TFM和PCI。利用PCI和的各個(gè)屬性

TFM要調(diào)查焊縫的體積

雙方同時(shí)進(jìn)行。使用安裝的兩個(gè)探頭

在我們的AxSEAM™長縫掃描儀上，

您可以在一次傳遞中生成清晰的TFM和PCI結(jié)果。