CR和DR性能檢測(cè)模體可用于核醫(yī)學(xué)質(zhì)控
德國(guó)IBA公司 DIGI-13型CR和DR性能檢測(cè)模體用于CR和DR成像系統(tǒng)的質(zhì)量檢測(cè)(包括 均勻性、空間分辨力、低對(duì)比分辨率、可見光野和X射線野的校準(zhǔn)和偽影等)。DIGI-13型CR和DR性能檢測(cè)模體產(chǎn)品簡(jiǎn)介:根據(jù)DIN 6868-13標(biāo)準(zhǔn), 用于CR和DR成像系統(tǒng)的質(zhì)量檢測(cè)(包括 均勻性、空間分辨力、低對(duì)比分辨率、可見光野和X射線野的校準(zhǔn)和偽影等)在1毫米厚的銅質(zhì)基板 (300 x 300 x 1.0 mm) 上有:1.動(dòng)態(tài)步進(jìn)式楔形梯, 含有不同的射線吸收系 數(shù)的7 階步進(jìn)式楔形梯: 0.00, 0.30, 0.65, 1.00,1.40, .85和2.3 mm 銅厚度動(dòng)態(tài)范圍2.低對(duì)比度測(cè)試體, 由鋁質(zhì)圓盤組成, 直徑10毫米, 在70kV時(shí)產(chǎn)生的對(duì)比度范圍為: 0.8%, 1.2%,2.0%, 2.8% , 4.0% 和5.6%3.分辨率檢測(cè) (線對(duì)卡): 檢測(cè)空間分辨率0.6 –5.0 Lp/mm, 45°旋轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)4.標(biāo)記區(qū)為信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)化和均勻性檢測(cè)5.不同尺寸的暗盒邊緣區(qū)域標(biāo)記
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