由于磁吸力或測(cè)厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后，在使用中不能再變動(dòng)，所以在實(shí)際使用中可能會(huì)出現(xiàn)的一些影響測(cè)量精度的因素必須加以考慮，并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值。這些因素有：

a、鋼鐵基體的磁特性
磁性測(cè)厚儀受基體金屬導(dǎo)磁性能變化的影響。低碳鋼磁性的變化是很輕微的不必考慮，高碳鋼及熱處理后的硬鋼則會(huì)使讀值偏高。
b、基體金屬厚度
該儀器有一個(gè)基體小臨界厚度值。型號(hào)不同，則該臨界厚度不同。請(qǐng)參考技術(shù)說明指標(biāo)表（表1）。若厚度超過這一小臨界厚度值，測(cè)量值不會(huì)受到影響；反之，則造成讀值偏高。
c、邊緣效應(yīng)
該測(cè)量方法對(duì)被測(cè)體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此，在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。所以，技術(shù)說明指標(biāo)指出了小測(cè)量面積。必須要測(cè)量這種場(chǎng)合時(shí)，一定要經(jīng)過校準(zhǔn)。
d、曲率
被測(cè)量件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，一般凸面造成測(cè)值偏大，凹面則偏小。盡管儀器在設(shè)計(jì)時(shí)對(duì)這方面有所補(bǔ)償。
e、覆蓋層的厚度
測(cè)厚精度隨覆層厚度變化面變化。對(duì)于薄的覆層，其測(cè)量精度是一個(gè)常數(shù)，與覆層厚度無關(guān)；對(duì)于厚度的覆層，其精度與覆層厚度近似成正比。
f、剩磁
基體金屬的剩磁對(duì) Mikrotest 測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果會(huì)有影響。
g、磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重干擾測(cè)厚儀工作。
h、地球重力
Mikrotest 測(cè)厚儀測(cè)量讀數(shù)受測(cè)頭相對(duì)于地球重力方向影響。

了解了以上幾項(xiàng)可能影響測(cè)量精度的因素后，可以通過試測(cè)找到一個(gè)修正值。比較實(shí)用的方法是：在有以上情況的的沒有涂鍍層的被測(cè)件表面上先測(cè)量幾次，找到一個(gè)平均初始值，然后在同樣條件的涂鍍層表面測(cè)量取得讀數(shù)后，減去這個(gè)初始值。對(duì)于 b 項(xiàng)所列情況，可以采取在基材下面無隙緊貼一塊鐵板來近似解決。