日本電測densoku便攜式薄膜膜厚計QNIx系列介紹

便攜式膜厚儀，可輕松提高麻煩的膜厚測量的生產(chǎn)效率

QNIx系列產(chǎn)品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C，也有助于防止測量過程中掉落事故。

QNIx系列功能

無需進行膜校準(zhǔn)即可進行精確的膜厚度測量

出廠時輸入了16點校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進行精確的薄膜厚度測量。

膜厚測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

在傳統(tǒng)的測量儀器中，測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數(shù)據(jù)。QNIx系列使用“無線加密gou”，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測量數(shù)據(jù)。

超輕便的無線測量儀

探頭測得的數(shù)據(jù)被無線發(fā)送到主機。它降低了被電纜卡住，像傳統(tǒng)產(chǎn)品一樣妨礙或?qū)е碌涫鹿实娘L(fēng)險。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。

一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。

QNIx系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使發(fā)生極少數(shù)的故障，拆卸和維修也很容易，因此縮短了維修時間。此外，它配備有紅寶石芯片，可以安全地進行測量，而不會損壞要測量的對象（樣品）。

QNIx系列比較規(guī)格表

便攜式薄膜測厚儀的型號代碼指南

[F]黑色金屬材料的非磁性膜厚度測量

[N]有色金屬材料的非導(dǎo)電膜厚度測量

[FN]用一根探針測量黑色金屬和有色金屬材料上的膜厚

[T]微型探針

[M]測量數(shù)據(jù)存儲功能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C