CMI165手持式面銅測厚儀

來源：深圳譜賽斯科技有限公司 2017年05月23日 08:54

　　NJ-CMI165是一款人性化設(shè)計、堅固耐用的世界帶溫度補償功能的手持式銅箔測厚儀。一直以來，

　　面銅測量的結(jié)果往往受到樣品溫度的影響。CMI165的溫度補償功能解決了這個問題，確保測量結(jié)果精

　　確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測厚儀配有探針防護(hù)罩，確保探針的耐用性，即使在惡

　　劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測。

　　CMI165帶溫度補償功能的面銅測厚儀的特點

　　- 可測試高溫的PCB銅箔

　　- 顯示單位可為mils，μm或oz

　　- 可用于銅箔的來料檢驗

　　- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試

　　- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試

　　- 配有SRP-T1，帶有溫度補償功能的面銅測試頭

　　- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試

　　CMI165®帶溫度補償功能的面銅測厚儀手持式面銅測厚儀，牛津儀器CMI165系列用于測試高/低溫的PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅厚定量測試、電鍍銅后的面銅厚度測量，在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來料檢驗

　　牛津儀器CMI165手持式面銅測厚儀厚度測量范圍：

　　化學(xué)銅：0.25μm–12.7μm(0.01mils–0.5mils)

　　電鍍銅：2.0μm–254μm(0.1mil–10mil)

　　線性銅線寬范圍：203μm–7620μm(8mil–300mil)

　　儀器再現(xiàn)性：0.08μm at 20μm(0.003 mils at 0.79 mils)

　　顯示單位：mil、μm、oz

　　操作界面：英文、簡體中文

　　存儲量：9690條檢測結(jié)果(測試日期時間可自行設(shè)定)

　　測量模式：固定測量、連續(xù)測量、自動測量模式

　　統(tǒng)計分析：數(shù)據(jù)記錄，平均數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差，上下限提醒功能

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