多片OLED器件IVL+視角測量系統(tǒng)

主要應(yīng)用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)工廠，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測試需求。

系統(tǒng)特點(diǎn)

1.大批量器件的測試
系統(tǒng)配有多通道電路選擇器，可支持多達(dá)24片共96個(gè)發(fā)光點(diǎn)的OLED器件依次點(diǎn)亮測試（具體器件和發(fā)光點(diǎn)數(shù)量可定制）。測試前可預(yù)點(diǎn)亮所有發(fā)光點(diǎn)以確認(rèn)器件是否均正常。

2.發(fā)光區(qū)域中心自動(dòng)對位識(shí)別
工業(yè)視覺對位CCD自動(dòng)識(shí)別發(fā)光點(diǎn)位置，不管是垂直測IVL還是旋轉(zhuǎn)器件測視角亮度，始終保證測量點(diǎn)對準(zhǔn)發(fā)光區(qū)域中心。

3.大視角范圍測試
即使是3*3mm的發(fā)光點(diǎn)，在測視角時(shí)仍可以滿足75度視角以上的測試要求。同時(shí)工業(yè)視覺對位相機(jī)可修正旋轉(zhuǎn)時(shí)產(chǎn)生的測量點(diǎn)偏差，保證大視角下測量點(diǎn)依然對準(zhǔn)器件發(fā)光中心。

4.高低溫溫控箱
可選配高低溫箱（溫控范圍：-40-100℃）

5.光譜儀的高速測量
為節(jié)省低輝度下的光譜儀測量時(shí)間，弗士達(dá)支持CS-2000A的高速Dll模式并對其優(yōu)化，以實(shí)現(xiàn)亮度大量程和快速測量的結(jié)合，以節(jié)省測量時(shí)間，提高機(jī)臺(tái)的測試效率

OLED器件IVL測試系統(tǒng)測量軟件

I-V-L曲線測量的設(shè)定
1.可以設(shè)定起始電壓、終止電壓、電壓步長，進(jìn)行連續(xù)的測量
2.可以設(shè)定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長，進(jìn)行連續(xù)測量
3.可以單獨(dú)設(shè)定電流密度的亮度檢測下限值，低于下限值時(shí)僅測電流電壓，超過下限值后同時(shí)測電壓電流亮度等數(shù)據(jù)
4.可以設(shè)定并保存設(shè)定的機(jī)種參數(shù)，下次測量時(shí)可以直接調(diào)用

I-V-L的測量數(shù)據(jù)
測量的結(jié)果包括：亮度L(cd/m2)，電流效率(mA/cm2)，發(fā)光效率，外量子效率，色坐標(biāo)(x，y)，色溫，顯色指數(shù)CRI，發(fā)光光譜
輸出的測量項(xiàng)報(bào)表中的 圖表包括： Cdens-V，Cdens-L，Cdens-LumE，Cdens-EQE，CIE1931，Spectra