晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案 參考價：面議
晶圓缺陷參數(shù)檢測 : 非接觸測試解決方案，基于我司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術(shù)，聯(lián)合白光干涉等其它...
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組 參考價：面議
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組，以自動化顯微鏡模組為基礎(chǔ)，針對 SiC 等化合物半導體晶圓位錯、層錯等缺陷檢測需求。
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組 參考價：面議
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組，針對半導體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環(huán)節(jié)自動化視覺檢測需求。
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