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Photron在線雙折射分布檢測系統(tǒng)可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統(tǒng)KAMAKIRI

Photron離線雙折射分布檢測系統(tǒng)可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統(tǒng)KAMAKIRI

奧林巴斯手持光譜儀可以在現(xiàn)場指明多種珠寶和貴金屬的特性，這些貴金屬包括金、銀、鉑、鈀等。分析儀可以根據(jù)含金純度為含金合金精確地進行分類（0到24克拉），而且還可...

奧林巴斯相控陣探傷儀OmniScan SX在其8.4英寸觸摸屏上使用了合理簡化的新型軟件界面。OmniScan SX是一款單組無模塊儀器，針對檢測要求較低的應用...

工業(yè)定制鏡頭是一款高分辨率遠心鏡頭，并且該光學鏡頭 帶內(nèi)同軸照明接口 ，支持至大 17.6mm 靶面相機 ，鏡頭倍率- 0.345x 。物方分辨率 2um 。鏡...

AVS高速相機短波紅外相機特點：img1G-032 TEC1千兆網(wǎng)視覺InGaAs相機VGA分辨率以太網(wǎng)供電緊湊型工業(yè)級設計無風扇設計高動態(tài)范圍

up down vision光學系統(tǒng)，用于半導體封裝與貼合精密對位與精密檢測

X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時分析10種元素。成分測量可同時分析25...

顯微鏡下微取樣系統(tǒng)CollectionPro：微小礦物自動挑選/采集/集聚系統(tǒng)將耗費礦物學研究者時間和精力的挑選、采集、集聚作業(yè)變得省力。通過結(jié)合圖像處理系統(tǒng)和...

超微小納米壓痕儀通過減少測量環(huán)境的干擾實現(xiàn)高數(shù)據(jù)再現(xiàn)性，適用于0.5uN-2000mN的廣泛實驗負載。

顯微鏡LED無掩膜曝光系統(tǒng) UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光設備。

R-Testing-72是一款高性能AR虛像成像測試-Conoscope系統(tǒng)，鏡頭設計靶面支持至大全畫幅43.2mm，支持相機分辨率61M（9568*6380）...

VR-Pancake 鏡片光軸相對角度測量儀主要規(guī)格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測量波長：466nm,543nm,...

VR-Pancake 鏡片內(nèi)應力相位差測量儀主要規(guī)格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測量波長：466nm,543nm,...

目前與奧林巴斯、日本photo Lattice、日本Micro Support等企業(yè)達成長期代理與合作；主要代理產(chǎn)品包括：奧林巴斯工業(yè)顯微鏡系列，奧林巴斯工業(yè)探...

三鷹光器自動對焦非接觸3D測量設備無論什麼工件都以非接觸方式進行高精度的測量不依賴表面的色澤/反射率來做高精度測量從表面反射率僅有0.5的%鍍膜玻璃，至反射率擁...

創(chuàng)新型奧林巴斯無損測厚儀 38DL PLUS的機身設計堅固耐用，使用起來非常方便，而且測量結(jié)果準確可靠。這款手持式測厚儀可以有效地適用于幾乎各種超聲測厚應用，而...

我們在這款袖珍便攜、堅固耐用的奧林巴斯渦流探傷儀Nortec 600，奧林巴斯探傷儀匯集了奧林巴斯在高性能數(shù)字電路及渦流探傷方面新開發(fā)的技術。NORTEC 60...

奧林巴斯體式顯微鏡系統(tǒng) SZX7/SZ61/SZ51--具有伽利略光學系統(tǒng)的SZX7，全功能的SZ61以及多用途的SZ51，均可提供具有真實色彩，高分辨率，無失...

奧林巴斯工業(yè)檢測顯微鏡 MX63/MX63L系統(tǒng)支持檢測尺寸達300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質(zhì)量。這些符合人體工學設計的人性化系統(tǒng)采用模...