目錄:靈柯精密儀器(山東)有限公司>>粒徑譜儀/氣溶膠光譜儀>>稀釋系統(tǒng)>> Palas® VKL 10 級(jí)聯(lián)稀釋系統(tǒng)
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更新時(shí)間:2024-12-20 11:08:01瀏覽次數(shù):20評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
Palas® VKL 10 級(jí)聯(lián)稀釋系統(tǒng):稀釋系數(shù)為1:10的稀釋系統(tǒng)
• Palas®的稀釋系統(tǒng)具有明確的特征。每個(gè)單獨(dú)的設(shè)備都有一份校準(zhǔn)證書(shū)備案。
• 稀釋步驟可提供暫時(shí)恒定的代表性稀釋度(稀釋系數(shù)為10和100)。
• 稀釋系統(tǒng)可以按照100、1,000、10,000和100,000的稀釋因子進(jìn)行級(jí)聯(lián)
• 壓縮空氣消耗低,例如四個(gè)VKL 10系統(tǒng)僅需128 升 /分鐘,稀釋倍數(shù)為10,000
• 稀釋步驟可與所有常見(jiàn)的粒子計(jì)數(shù)器組合使用。
• 通過(guò)簡(jiǎn)單的測(cè)試設(shè)置,用戶可以自行檢查這些級(jí)聯(lián)稀釋系統(tǒng)。
• 使用VKL 10 E、VKL 10 ED、KHG 10和KHG 10 D稀釋系統(tǒng),等壓稀釋超壓高達(dá)10 bar/等溫稀釋高達(dá)120°C
• 簡(jiǎn)單的現(xiàn)場(chǎng)功能測(cè)試
v10 kl系列稀釋系統(tǒng)可以以確定和可靠的方式通過(guò)稀釋系數(shù)01:10降低氣霧劑的濃度,也可以降低高濃度的氣霧劑的濃度。
Palas®VKL 10稀釋系統(tǒng)用于垂直操作,其粉末和煙塵的粒徑范圍最大為20 µm。通過(guò)多個(gè)VKL級(jí)聯(lián)系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)高達(dá)1:100,000的稀釋系數(shù)。
功能原理:
無(wú)顆??諝猓w積流量VR)通過(guò)吸嘴連通的環(huán)形通道進(jìn)行循環(huán)。因此,根據(jù)伯努利方程,在吸嘴處產(chǎn)生體積流量VAn。
稀釋系數(shù)VF根據(jù)以下公式計(jì)算
Palas® VKL 10 級(jí)聯(lián)稀釋系統(tǒng)的粒徑分布的代表性稀釋度
VDI報(bào)告數(shù)量(從1973年到2007年)從計(jì)量學(xué)上證明,使用Palas®稀釋系統(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)可重現(xiàn)的氣溶膠稀釋(低至VF 100,000 )。
簡(jiǎn)單的現(xiàn)場(chǎng)功能測(cè)試
通過(guò)此簡(jiǎn)單的測(cè)試設(shè)置,任何人都可以檢查Palas®級(jí)聯(lián)稀釋系統(tǒng):
首先,通過(guò)稀釋步驟進(jìn)行顆粒測(cè)量。在此重要的是氣溶膠濃度例如待測(cè)實(shí)驗(yàn)室空氣不超過(guò)重合效應(yīng)極限(最大可檢測(cè)氣溶膠濃度)。在第二步中,待測(cè)稀釋步驟串聯(lián)(級(jí)聯(lián))。為了檢查測(cè)試步驟(位置2)的稀釋系數(shù),將位置1處的測(cè)量結(jié)果中的總顆粒數(shù)除以位置2處的總顆粒數(shù)。
實(shí)驗(yàn)裝置
位置1:實(shí)驗(yàn)室空氣
位置2:實(shí)驗(yàn)室空氣
VKL 100用于通過(guò)OPC進(jìn)行無(wú)重合效應(yīng)的測(cè)量; VKL 10已經(jīng)過(guò)測(cè)試。
測(cè)量示例
稀釋系數(shù)的計(jì)算
假設(shè)第一次測(cè)量不受重合誤差的影響,并且被測(cè)試的稀釋系統(tǒng)正在運(yùn)行(未受污染),則確定稀釋系數(shù)約為10。如果不是這種情況,則測(cè)量1中可能存在重合效應(yīng)。在這種情況下,必須降低氣溶膠濃度或使用另外的稀釋步驟。另一種可能性是待測(cè)試的稀釋步驟受污染。在這種情況下,必須清潔設(shè)備并重復(fù)測(cè)試。
表1:Palas®稀釋系統(tǒng)的技術(shù)特性
技術(shù)參數(shù)
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