目錄:大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司>>半導(dǎo)體光學(xué)檢測系列>>Micro LED晶圓級綜合檢測分析系統(tǒng)>> MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)功能：
檢測晶圓尺寸：4’
測量uLED類型：RGB
明場/PL檢測類型：明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析
EL電學(xué)檢測項(xiàng)目：V-I曲線、IR1/IR2/IR3、VF1/VF2/VF3
EL色度學(xué)檢測項(xiàng)目：Cx、Cy、WLD、EQE
PL/AOI檢測速度：10min/pcs（4’）
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)EL檢測速度：1.5s/die to die
大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術(shù)，致力于推動光譜技術(shù)在科研和工業(yè)領(lǐng)域的深入應(yīng)用。在科研儀器領(lǐng)域，創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш?duì)，是目前國內(nèi)極少具備瞬態(tài)光譜獨(dú)立研發(fā)-生產(chǎn)-應(yīng)用完整能力體系的團(tuán)隊(duì)。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術(shù)，超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品，打破進(jìn)口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導(dǎo)體檢測領(lǐng)域，公司以光譜技術(shù)創(chuàng)新為核心立足點(diǎn)，已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領(lǐng)域布局。
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