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產(chǎn)品介紹：

HAST Chamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱，用于車(chē)規(guī)級(jí)芯片，IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測(cè)試其制品的密封性和老化性能。

產(chǎn)品別名：

UHAST, 高加速穩(wěn)態(tài)濕熱應(yīng)力試驗(yàn)箱, 高壓蒸汽試驗(yàn)箱, 不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱箱,BHAST。

一、滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

AEC Q101（車(chē)規(guī)級(jí)芯片）

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無(wú)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

二、應(yīng)用領(lǐng)域：

PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車(chē)規(guī)級(jí)芯片……

HAST高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

1.內(nèi)膽采用雙層圓弧設(shè)計(jì),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中受過(guò)熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。

2.產(chǎn)品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗?jié)裥栽囼?yàn)以及飽和高壓蒸汽（蒸煮）試驗(yàn)。

3.產(chǎn)品兼容高加速溫濕度應(yīng)力HAST老化試驗(yàn)和高壓蒸煮PCT抗?jié)裥栽囼?yàn)。