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日本HBM/MM/閂鎖 半導(dǎo)體靜電測(cè)試儀7000X系列:●7000X-E(專用于ESD試驗(yàn))●7000X-L(專用于閂鎖試驗(yàn))●7000X-EL(用于ESD/閂...
日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-...
日本半導(dǎo)體靜電測(cè)試儀陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-LUP (LATCH UP閂鎖 試驗(yàn)...
日本TET靜電ESD測(cè)試儀該系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有:●7000B-E(專用于ESD試驗(yàn))●7000B-L(專用于閂鎖試驗(yàn))●7000B-EL(用于ESD/閂鎖試驗(yàn))
日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 CDM測(cè)試儀測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號(hào))...
日本HBM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試,包括CDM測(cè)試??蓱?yīng)用于器件開發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 日本TET靜電測(cè)試儀測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專...
HBM、MM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試,包括CDM測(cè)試。可應(yīng)用于器件開發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
半導(dǎo)體閂鎖測(cè)試儀7000B產(chǎn)品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標(biāo)準(zhǔn)、ESD波形自動(dòng)測(cè)試、對(duì)應(yīng)引腳組合測(cè)試、高達(dá)8kV...
日本半導(dǎo)體MM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試,包括CDM測(cè)試??蓱?yīng)用于器件開發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
日本半導(dǎo)體HBM測(cè)試儀本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試,包括CDM測(cè)試??蓱?yīng)用于器件開發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
日本半導(dǎo)體閂鎖測(cè)試儀系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有:●7000X-E(專用于ESD試驗(yàn))●7000X-L(專用于閂鎖試驗(yàn))●7000X-EL(用于ESD/閂鎖試驗(yàn))
日本TET東京電子株式會(huì)社 ESD1100系列 TET半導(dǎo)體CDM測(cè)試儀陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型...
日本TET半導(dǎo)體ESD測(cè)試儀該系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有:●7000B-E(專用于ESD試驗(yàn))●7000B-L(專用于閂鎖試驗(yàn))●7000B-EL(用于ESD/閂鎖試驗(yàn)...
ESD/閂鎖試驗(yàn)機(jī)臺(tái) 7000X系列系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有:●7000X-E(專用于ESD試驗(yàn))●7000X-L(專用于閂鎖試驗(yàn))●7000X-EL(用于ESD/閂...
ESD測(cè)試機(jī)臺(tái)/1200系列本產(chǎn)品可進(jìn)行器件級(jí)ESD測(cè)試,包括CDM測(cè)試。可應(yīng)用于器件開發(fā)評(píng)價(jià)、器件認(rèn)證和進(jìn)廠測(cè)試、評(píng)價(jià)、使用環(huán)境評(píng)價(jià)等各種試驗(yàn)用途。
瞬態(tài)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品簡(jiǎn)介符合多種測(cè)試需求:電流測(cè)試 4.4A/電壓測(cè)試 25V產(chǎn)品用途單機(jī)提供多種解決方案,可見詳情或聯(lián)系我們。
ESD/閂鎖試驗(yàn)機(jī)臺(tái)/7000X系列產(chǎn)品簡(jiǎn)介7000X系列測(cè)試機(jī)臺(tái)陣容有:●7000X-E(專用于ESD試驗(yàn))●7000X-L(專用于閂鎖試驗(yàn))●7000X-E...
日本TET半導(dǎo)體靜電測(cè)試儀陣容有: ●1100-ESD(ESD試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-CDM (CDM試驗(yàn)專用型號(hào))●1100-LUP (LATCH UP閂鎖...
ESD/閂鎖試驗(yàn)機(jī)臺(tái)/7000B系列產(chǎn)品用途【ESD部-滿足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC標(biāo)準(zhǔn)、ESD波形自動(dòng)測(cè)試、對(duì)應(yīng)引腳組合測(cè)試、...
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