極其強大的先進研究工具
設(shè)計用于適應(yīng)特定的薄膜應(yīng)用,如 GMR、CMS、半導(dǎo)體、納米級器件、光子學(xué)和光伏
系統(tǒng)設(shè)計可以配置為真正的超高真空性能
經(jīng)過現(xiàn)場測試和驗證的設(shè)計
真空室
適應(yīng)性強的腔室、底板和基板選項
18“ D x 15" H 不銹鋼工藝室
基板處理
旋轉(zhuǎn)基板,適用于最大 150 毫米(6 英寸)基板
使用石英燈加熱器將基板加熱至800°C
單晶圓或多晶圓負(fù)載鎖定,帶手動或計算機控制的樣品轉(zhuǎn)移
高精度PID溫度控制回路(配備基板加熱時)
泵送和測量
1500 l/s 低溫泵
寬量程真空計,atm 至 1x10-10托
高精度閉環(huán)壓力控制(濺射應(yīng)用的上游和下游)
沉積源
氣動源和基板百葉窗
可配置六個或更多磁控沉積源
交叉污染屏蔽(如適用)
質(zhì)量與安全
計算機控制,手動或全自動操作
提供 CE 標(biāo)志、UL 列表、CSA、NRTL 和其他行業(yè)認(rèn)可的測試認(rèn)證
擠壓鋁框架,帶外殼板
單業(yè)務(wù)分接配電模塊
基板處理
旋轉(zhuǎn)基板,適用于最大 200 毫米(8 英寸)基板
用于樣品清潔的基質(zhì)偏置(通常是射頻等離子體,用于去除天然氧化層)
沉積過程中的襯底偏置會影響薄膜微觀結(jié)構(gòu)的特征(如晶體取向),提高薄膜致密化,促進薄膜粘附力,并促進提高共濺射合金薄膜的薄膜均勻性
使用元件式加熱器將基板加熱至1100°C
基板冷卻(液體和/或 LN2)
用于涂覆基材兩側(cè)的樣品翻轉(zhuǎn)夾具
薄膜成型工具(刀片安裝在高精度計算機控制臂上)
基板上的可轉(zhuǎn)位磁場
原位薄膜分析(光學(xué)過程監(jiān)測儀、RHEED 或光譜橢偏儀)