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參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌TaylorHobson/英國泰勒霍普森
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地無錫市
更新時間:2024-06-20 12:28:49瀏覽次數(shù):680次
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CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀簡介
CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀,具有測量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法,來查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測量功能和專業(yè)的厚薄膜測量技術(shù)。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測量功能,還可以提供兩種類型的膜厚測量。 近年來厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料;測量的厚度限制取決于材料的折射率和標的物的 NA。 測量較薄的涂層被證實為難度更高。現(xiàn)在通過干涉測量法可以研究厚度至 50 納米(同樣取決于折射率)的薄膜涂層。 采用這種新型方法,可以在單次測量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。
CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀優(yōu)勢
2048 x 2048像素陣列,視場廣,高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
適用于0.3% - 100%的表面反射率
RMS 重復(fù)精度<0.2埃,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
多語言版本的64位控制和分析軟件
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