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| 窗口類型 | SW | 分辨率 | 121、123、126、129eV |
|---|---|---|---|
| 峰背比 | NA | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 探測器類 | 硅漂移探測器（SDD） | 探測器面積 | 10/30/60/100 mm2mm |
| 儀器種類 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),能源,綜合 |
| 最大計(jì)數(shù)率 | 600kcpscps | 元素檢測范圍 | Be - Am |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
布魯克 QUANTAX 能譜儀結(jié)合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固體角度®活動(dòng)區(qū)域芯片。這使得探測器對希望在EDS應(yīng)用的整個(gè)譜圖中使用探測器的分析中非常有吸引力，從輕元素分析到快速面掃描Mapping，以及EDS和EBSD測量的結(jié)合。XFlash6-30一定會(huì)提供快速的結(jié)果。
一：XFlash6-30具有以下優(yōu)點(diǎn)：
1.XFlash 6-30 出色的能量分辨率（Mn K® 的 123 eV，C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV）®
2.其他可用分辨率為 Mn K® 的 126 eV和129 eV
3.*的脈沖處理能力
4.出色的輕元素和低能量X-ray分析性能（Be - Am 元素范圍）
5.空氣冷卻，不會(huì)因?yàn)槠渌鋮s系統(tǒng)而產(chǎn)生震動(dòng)
6.電源打開后立即可用
7.運(yùn)營成本低
8.免維護(hù)操作
9.小尺寸，包括 slim-line technology finger
10.重量低
二：布魯克 QUANTAX 能譜儀推薦應(yīng)用領(lǐng)域包括：
1.XFlash 6-30用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系統(tǒng)（焊接波紋管可作為選項(xiàng)使用）
2.將 EDS 和快速 EBSD 分析與eFlash FS 相結(jié)合
3.快速元素面掃描
