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當(dāng)前位置：上海神洲聯(lián)測(cè)實(shí)業(yè)有限公司>>電力電子測(cè)試儀器>>蓄電池測(cè)試儀>> ST5680EOL日置直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)ST5680EOL
品 牌HIOKI/日本日置
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地上海市
更新時(shí)間：2025-03-12 22:05:34瀏覽次數(shù)：29次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 外形尺寸 | 305（W）×142（H）×430（D）mm |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車,電氣,綜合 | 重量 | 10.0 kg±0.2 kgkg |
ST5680EOL日置直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀/蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀的詳細(xì)技術(shù)參數(shù)、性能特點(diǎn)：
ST5680EOL是HIOKI日置推出的一款高精度直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀，專為電池、電機(jī)及電子零件的安全測(cè)試設(shè)計(jì)。它通過波形分析和數(shù)值顯示，提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，廣泛應(yīng)用于電池模組、電池包、電芯的電極與外殼間的耐壓測(cè)試，以及電機(jī)和電子零件的絕緣性能驗(yàn)證。
一、核心功能
1. 直流耐壓測(cè)試
輸出電壓范圍：DC 0.050 kV～3.000 kV，分辨率1 V，精度±（1.2% of setting + 20 V）。
支持最小分辨率0.001 μA的泄漏電流測(cè)量，確保高精度判定。
2. 絕緣電阻測(cè)試
輸出電壓范圍：DC 50 V～1000 V，電阻值顯示范圍100.00 kΩ～200.0 GΩ，精度±（1.5% rdg. + 3 dgt.）。
適用于高絕緣性能的電池和電機(jī)測(cè)試。
3. 絕緣擊穿電壓測(cè)試（BDV功能）
支持連續(xù)升壓和逐級(jí)升壓測(cè)試，測(cè)量絕緣擊穿電壓及強(qiáng)度，適用于電池開發(fā)時(shí)的性能評(píng)估。
4. 波形顯示功能
實(shí)時(shí)顯示輸出電壓、泄漏電流和絕緣電阻波形，支持波形放大和分析，無(wú)需電腦即可現(xiàn)場(chǎng)操作。
5. 電弧放電檢測(cè)功能
檢測(cè)因焊接毛刺或粉塵異物引起的電弧放電，防止微小故障品流出，降低火災(zāi)風(fēng)險(xiǎn)。
6. 接觸檢查功能
通過測(cè)量端子間電容，判斷測(cè)試對(duì)象是否正確連接，防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)。
二、技術(shù)參數(shù)
電源電壓：AC 100 V～240 V，功耗約180 VA。
使用環(huán)境：0°C～40°C，濕度80% RH以下（無(wú)結(jié)露）。
接口：USB、LAN、EXT. I/O，支持RS-232C和GP-IB選件。
尺寸與重量：305（W）×142（H）×430（D）mm，10.0 kg±0.2 kg。
| 主要功能 | 直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能"表) |
|---|---|
| 功能一覽 | 聯(lián)鎖、自動(dòng)放電、消除偏移、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW（遠(yuǎn)程控制） |
| 使用溫濕度范圍 | 0°C～40°C，80% RH或以下（無(wú)結(jié)露） |
| 適合標(biāo)準(zhǔn) | 安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 電源電壓 | AC 100 V ～ 240 V |
功耗 | 約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。 |
最大額定功率 | 800 VA |
接口 | 通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000） 存儲(chǔ)：U盤 |
尺寸·重量 | 305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） |
附件 | 電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動(dòng)指南 |
| 直流耐壓測(cè)試 | 輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μA 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以上 測(cè)試模式W→IR，IR→W，程序測(cè)試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測(cè)試 | 輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V） 電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF） 電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF |
| 絕緣擊穿電壓測(cè)試 | 測(cè)試方法：連續(xù)升壓測(cè)試，逐級(jí)升壓測(cè)試 測(cè)量?jī)?nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm） 設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測(cè)，電極間距離，電流上限值 檢測(cè)有效電壓：150V以上 |
| 波形顯示功能 | 波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻 采樣速度：500 kS/s 內(nèi)存容量：512 K words |
| ARC放電檢測(cè)功能 | 檢測(cè)方式：監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng) 設(shè)定內(nèi)容：測(cè)試電壓變動(dòng)率1％～50％ 檢測(cè)有效電壓：150V以上 |
| 存儲(chǔ)功能 | ·波形·圖形 ·面板保存功能 ·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能 |
| 判定功能（判定輸出） | 判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：測(cè)量值＞上限值 PASS：上限值≥測(cè)量值≥下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值＜下限值 |
| 注記（*1） | 環(huán)境溫度t不足5℃時(shí)加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 環(huán)境溫度t超過35℃時(shí)加上±(1% rdg.×(t-35 ) ) |
| 測(cè)試范圍 | 100 kΩ ～ 99.99 GΩ | |
|---|---|---|
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ | ±(20% rdg.) |
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ | ±(5% rdg.) |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ | ±(2% rdg. + 5 dgt.) |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 100 μA ≦ I ≦ 20 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 注記（*2） | · 測(cè)試電壓為50 V?99 V時(shí)，測(cè)量精度加算±10% · 測(cè)試電壓為100 V?999 V時(shí)，測(cè)量精度加算±5% · 測(cè)試電壓為1000 V?2000 V時(shí)，測(cè)量精度加算±2% · 環(huán)境溫度t小于5℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 環(huán)境溫度t超過35℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 測(cè)定速度為FAST2時(shí)，測(cè)量精度加倍 | |
三、應(yīng)用場(chǎng)景
1. 電池生產(chǎn)與測(cè)試
用于電池模組、電池包、電芯的耐壓測(cè)試和絕緣電阻測(cè)試，確保電池安全性和一致性。
2. 電機(jī)與電子零件測(cè)試
驗(yàn)證電機(jī)和電子零件的絕緣性能，防止因絕緣不良導(dǎo)致的故障。
3.研發(fā)與質(zhì)量管理
支持電池開發(fā)時(shí)的絕緣耐力評(píng)估，優(yōu)化生產(chǎn)工序，提高產(chǎn)品質(zhì)量。
四、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1. 高精度與高可靠性
最小分辨率0.001 μA，確保微小泄漏電流的準(zhǔn)確測(cè)量，防止誤判。
2. 高效生產(chǎn)支持
波形分析功能幫助優(yōu)化生產(chǎn)工序，減少不良品流出，提高生產(chǎn)效率。
3. 符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
支持IEC 61010和IEC 61326等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，適用于*市場(chǎng)。
ST5680EOL日置直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀/蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀憑借其高精度、多功能和可靠性，成為電池、電機(jī)及電子零件安全測(cè)試的理想工具。
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