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布魯克Bruker  LUMOS II紅外顯微鏡 

LUMOS II的特點(diǎn)：

·       FPA成像性能

·       高清光譜和視覺(jué)數(shù)據(jù)

·       創(chuàng)新的校準(zhǔn)技術(shù)PermaSure+

·       超快成像數(shù)據(jù)采集

·       巨大視野和高達(dá)亞微米級(jí)別的視覺(jué)分辨率

·       ATR、透射和反射模式下的焦平面陣列（FPA）成像

·       標(biāo)準(zhǔn)TE-MCT檢測(cè)器可在無(wú)液氮的情況下提供高靈敏度！

·       軟件引導(dǎo)的測(cè)量支持初學(xué)者和專業(yè)用戶

·       放置樣品輕松：允許最大樣品厚度達(dá)40毫米

·       全電動(dòng)化和自動(dòng)化的硬件

·       符合cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur.和聯(lián)邦法規(guī)21章第11款(21 CFR p11)

·       自動(dòng)OQ/PQ/藥典測(cè)試

·       如果應(yīng)用需求發(fā)生變化，可隨時(shí)升級(jí)系統(tǒng)

任何地點(diǎn)、任何用戶

我們相信并努力做到，向所有用戶提供先進(jìn)的技術(shù)。繁瑣的硬件和軟件操作不應(yīng)該成為限制FTIR顯微和成像技術(shù)巨大優(yōu)勢(shì)的因素。

我們稱之為真正的FPA成像。為什么？

因?yàn)?/span>LUMOS II通過(guò)使FTIR成像更快、更容易、更準(zhǔn)確、更可靠甚至更有趣來(lái)提升FTIR成像品質(zhì)。

為實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)，我們專門(mén)為用戶量身定制了 LUMOS II、軟件和用戶界面。初學(xué)者也可以立即獲得好的測(cè)試結(jié)果，專家則可以利用LUMOS II的無(wú)限潛能。

更好的儀器、更好的結(jié)果

LUMOS II 在透射和反射測(cè)量中的出色結(jié)果是顯而易見(jiàn)的。此外，一個(gè)值得注意的亮點(diǎn)是衰減全反射 (ATR) 的測(cè)量。

簡(jiǎn)而言之，LUMOS II ATR模式下的性能是優(yōu)秀的。不要滿足于不可靠的、手動(dòng)的 ATR 配件—要獲得更好的。要擁有 LUMOS。

可伸縮的晶體由高精度壓電電機(jī)控制并被集成到透鏡中。這使您可以清楚地看到樣品，并在您選定的位置進(jìn)行精確測(cè)量。

輕松的FTIR測(cè)量

• 標(biāo)準(zhǔn) TE-MCT 檢測(cè)器

• 無(wú)需液氮

• 無(wú)需吹掃

• 低功耗

• 抗高濕度（ZnSe 光學(xué)元件）

• 包括激光在內(nèi)的元件壽命長(zhǎng)

• 占用空間小

布魯克Bruker  LUMOS II紅外顯微鏡 

• 帶集成壓力傳感器的電動(dòng)ATR晶體

• ATR模式下的FPA成像

• 在ATR、透射和反射模式之間快速切換

• 高精度樣品臺(tái)

• 自動(dòng)測(cè)量

ATR

LUMOS II是一款易于使用的獨(dú)立式FTIR顯微鏡，在任何測(cè)量模式下均具有高性能。無(wú)論是透射、反射還是衰減全反射(ATR)，LUMOS II始終是正確的選擇。

但它zui大的優(yōu)勢(shì)是ATR顯微技術(shù)。

FTIR顯微技術(shù)中ATR的適用性令人驚奇，結(jié)合FPA成像可以進(jìn)一步增強(qiáng)它的適用性。這使得LUMOS II成為故障分析和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的常用工具。

ATR在顯微技術(shù)中的優(yōu)勢(shì)

誠(chéng)然，每種技術(shù)都有其優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。在FTIR顯微技術(shù)中，透射和反射面臨著類(lèi)似的限制因素限制其適用性。

相比之下，ATR在無(wú)需樣品制備的情況下，幾乎可為任何樣品類(lèi)型提供高品質(zhì)的FTIR數(shù)據(jù)。此外，它還提供高空間分辨率。

與透射和反射測(cè)量相比，在ATR中，鍺晶體充當(dāng)固體浸沒(méi)透鏡，將空間分辨率提高4倍。這樣，您可以輕松分析小至幾微米的樣品。

在透射中，樣品必須足夠薄以使紅外輻射穿透。對(duì)于大多數(shù)樣品，這需要耗時(shí)的樣品制備，例如使用精細(xì)切片機(jī)切片。

如果要檢測(cè)小纖維或微粒，必須使用昂貴的紅外透明的濾膜和壓片單元。

在反射中，樣品需具備光滑的、拋光的紅外反射表面，或者放在鋁鏡或金鏡上。在后一種情況下，樣品也必須非常薄才能有足夠的紅外線通過(guò)，從而獲得合適的紅外光譜。此外，反射光譜通常需要特殊的數(shù)據(jù)處理以進(jìn)行評(píng)估。

持久和強(qiáng)大的應(yīng)用

對(duì)我們來(lái)說(shuō)，向客戶交付好的技術(shù)是理所應(yīng)當(dāng)?shù)氖?。這也適用于LUMOS II。

RockSolid^TM 干涉儀可確保恒定的性能，而現(xiàn)代電子設(shè)備可確保機(jī)械精度和低能耗。同時(shí)，軟件可監(jiān)控儀器的有效性并始終確保正確的功能。

無(wú)限可能，待您探索

FTIR成像的應(yīng)用非常多樣。上面的例子概述了ATR-FTIR顯微技術(shù)的實(shí)用性。無(wú)論是產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、故障分析還是識(shí)別古代壁畫(huà)的成分— LUMOS II都能從容高效地完成這一切。

應(yīng)用

高分子研究

FTIR是高分子科學(xué)中重要的分析技術(shù)之一。在這一領(lǐng)域中，紅外顯微技術(shù)能提供優(yōu)秀的細(xì)節(jié)層次。用它可以來(lái)追蹤產(chǎn)品缺陷的原因，例如夾雜物和不均勻性。它還可以用來(lái)揭示復(fù)雜材料、多層結(jié)構(gòu)、層壓板、復(fù)合材料和清漆的化學(xué)成分。

制藥

LUMOS II*符合cGMP、GLP和所有制藥法規(guī)，如21 CFR Part11。自動(dòng)化測(cè)試程序(OQ/PQ/PhEur/PhJp/USP等)讓您能專注于分析任務(wù)：檢查片劑、顆粒和粉末，檢測(cè)并識(shí)別顆粒和其他污染物；評(píng)估活性藥物成分和輔料的分布。

電子元件

電子產(chǎn)品生產(chǎn)要用到各種類(lèi)型的有機(jī)/無(wú)機(jī)材料。FTIR光譜是一種通用技術(shù)，可為大多數(shù)樣品提供有價(jià)值的化學(xué)信息。因此，FTIR顯微技術(shù)對(duì)故障和根本原因分析有很大幫助。

表面分析

某些表面改進(jìn)適用于特定用途的產(chǎn)品。這包括高分子等有機(jī)涂層和DLC沉積等無(wú)機(jī)涂層。FTIR成像是檢查涂層均勻性和排除不規(guī)則性的理想選擇。

生命科學(xué)

微觀FTIR分析為生物學(xué)提供了重要的啟示。它可以發(fā)現(xiàn)特定的疾病模式、功能失調(diào)的組織甚至新的與疾病相關(guān)的生物標(biāo)志物。LUMOS II具有快速成像功能和大視野，簡(jiǎn)化了冗長(zhǎng)的組織研究過(guò)程。

汽車(chē)

在汽車(chē)工業(yè)中，FTIR顯微技術(shù)用于檢查所有類(lèi)型的組件，例如油漆、涂料、輪胎、內(nèi)飾、發(fā)動(dòng)機(jī)零件和所有類(lèi)型的電子產(chǎn)品。優(yōu)點(diǎn)是可以快速識(shí)別缺陷并確定其原因，從而實(shí)現(xiàn)精確的故障排除。

顆粒分析

無(wú)論是微塑料還是技術(shù)清潔，對(duì)顆粒的研究都很重要。LUMOS具有識(shí)別顆粒并自動(dòng)測(cè)量顆粒的特殊軟件功能，是您分析任何表面上任何顆粒的可靠幫手。

在取證方面，細(xì)微的細(xì)節(jié)都可能至關(guān)重要。FTIR顯微技術(shù)是研究小痕量證據(jù)的優(yōu)選方法。分析纖維、藥物、油漆和清漆，以深入了解復(fù)雜的分析案例。

環(huán)境

化學(xué)和顆粒污染會(huì)嚴(yán)重影響我們的生態(tài)系統(tǒng)。使用FTIR顯微技術(shù)和成像技術(shù)評(píng)估土壤、水和空氣中的污染。研究沉積物、地質(zhì)樣品等復(fù)雜樣品，并確定過(guò)濾器上的殘留物質(zhì)。