4當(dāng)前位置：深圳市中圖儀器股份有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體專業(yè)檢測設(shè)備>>晶圓形貌測量系統(tǒng)
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晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
晶圓微納幾何三維形貌測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
晶圓微納三維形貌量測系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
半導(dǎo)體晶圓厚度量測系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
半導(dǎo)體晶圓表面幾何形貌檢測系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備 參考價： ￥3000000
晶圓表面形貌量測設(shè)備 參考價： ￥3000000
半導(dǎo)體晶圓形貌檢測機 參考價： ￥3000000
晶圓wafer厚度測量設(shè)備 參考價： ￥3000000
半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測設(shè)備 參考價： ￥3000000
半導(dǎo)體晶圓大翹曲wafer測量設(shè)備 參考價： ￥3000000
晶圓Wafer厚度測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
晶圓微觀形貌測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000
半導(dǎo)體晶圓粗糙度表面形貌測量設(shè)備 參考價： 面議
無圖晶圓膜厚檢測設(shè)備 參考價： ￥3000000
無圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測機 參考價： 面議
晶圓表面厚度翹曲度測量系統(tǒng) 參考價： 面議
晶圓表面形貌參數(shù)測量儀 參考價： 面議
亞納米分辨率晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價： 面議
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀 參考價： ￥960000
無圖晶圓粗糙度測量設(shè)備 參考價： 面議
晶圓制程檢測設(shè)備幾何量測系統(tǒng) 參考價： 面議
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