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光學(xué)薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設(shè)備，利用紅外光譜經(jīng)傅里葉變換進(jìn)行快速分析，主要應(yīng)用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外...

SE-PV系列是針對光伏電池片特性專門設(shè)計(jì)的全光譜橢偏儀，基于旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù)，一次性獲取Psi/Delta、N/C/S等偏振信號，能實(shí)現(xiàn)光伏行業(yè)中絨面和非絨...

在線膜厚儀,SR-M顯微膜厚儀針對特定微小區(qū)域，可提供微米級的聚焦光斑，同時(shí)利用顯微物鏡定位測量點(diǎn)，從而獲取精準(zhǔn)位置的厚度表征結(jié)果。

薄膜厚度測試,膜厚測試儀,SR-C 緊湊型高精度反射膜厚儀，利用光學(xué)干涉原理，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜，快速準(zhǔn)確測量薄膜...

ME-L 是一款科研級全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團(tuán)隊(duì)在橢偏技術(shù)多年的研發(fā)投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制...

針對微區(qū)圖形結(jié)構(gòu)測量定制的專用型光譜橢偏儀

教學(xué)橢偏儀,Mapping系列光譜橢偏儀是全自動(dòng)高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，配置全自動(dòng)Mapping運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的...

SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜，從而測量薄膜的厚度及光學(xué)常數(shù)。

國產(chǎn)橢偏儀,SE-VE光譜橢偏儀是一款高性價(jià)比快速測量光譜橢偏儀,緊湊集成化設(shè)計(jì)，操作簡便，一鍵快速測量和向?qū)Ы换ナ饺藱C(jī)界面，具有豐富的材料數(shù)據(jù)庫和算法模型庫、...

橢偏儀廠家的SE-VM光譜橢偏儀是一款高精度快速測量光譜橢偏儀,可實(shí)現(xiàn)科研/企業(yè)級高精度快速光譜橢偏測量，支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置，...

國產(chǎn)膜厚儀,SR系列膜厚傳感器提供快速、穩(wěn)定的膜厚在線量測解決方案。

薄膜折射率測試,RT-V 系列反射透射測量儀，采用進(jìn)口氘鹵二合一光源，結(jié)合高性能分光光譜儀，可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內(nèi)薄膜的反射率和透射率光譜，并進(jìn)一步計(jì)...

橢圓偏光儀,橢偏在線監(jiān)測裝備針對LCD、OLED等新型平板顯示量產(chǎn)中所涉及的PI配向膜、光刻膠薄膜、ITO薄膜、有機(jī)發(fā)光薄膜、有機(jī)/無機(jī)封裝薄膜等質(zhì)量控制需要，...

紅外橢偏儀,SE-i光譜橢偏儀針對有機(jī)/無機(jī)鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測中的定制化開發(fā)，可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，橢偏測量頭快速實(shí)...

HRSR系列膜厚傳感器產(chǎn)品特點(diǎn)■ 超精密厚度測量，滿足5μm-800um的厚度監(jiān)測 ；■ 可測量所有具有粗糙、反射或不透明表面 ；■ 對惡劣的工業(yè)環(huán)境適應(yīng)性高 ...

光學(xué)膜厚傳感器,SRPV100 是一款應(yīng)用于光伏TopCon產(chǎn)品Poly膜厚在線監(jiān)控的傳感器，緊湊集成化設(shè)計(jì)，操作簡便，通過分析干涉形成的反射光譜，準(zhǔn)確表征Po...

穆勒矩陣光譜橢偏儀,橢偏檢測機(jī)臺通過整體高度集成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)不同橢偏測量模塊在線/離線式整體橢偏測量解決方案。