涂層測(cè)厚儀FMP30

測(cè)厚儀簡(jiǎn)介：

    精度1微米涂層測(cè)厚儀FMP30可以選用磁性探頭與非磁性探頭，也就是電磁感應(yīng)原理與渦流感應(yīng)原理，高精度測(cè)試儀器，電磁感應(yīng)原理就是基體為

鐵等磁性基材，渦流感應(yīng)原理就是基材為鋁銅等非導(dǎo)電材料。

    DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，評(píng)估和輸出，但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。

二、FMP30 測(cè)厚儀應(yīng)用范圍

三、可選 探頭：

    ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀常用渦流探頭：FTA3.3H，訂貨號(hào)：604-142，測(cè)量范圍：0 - 1200 μm，測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% 

     DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀常用磁性探頭：FGAB1.3，訂貨號(hào)：604-141，測(cè)量范圍：0 - 2000 μm（45 mils）。測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%

四、FPM30操作方式：

儀器垂直向下測(cè)量

五、精度1微米涂層測(cè)厚儀FMP30測(cè)量的測(cè)量方式：

   測(cè)量時(shí)

1、打開儀器

2、安裝電池，并打開電源。

3、調(diào)整儀器與探頭，并在基材上做歸零。

4、在樣品上測(cè)量。