串聯(lián)諧廠家/變頻諧振試驗裝置找頻快通過諧振條件產(chǎn)生的原因，可以知道兩種調(diào)節(jié)方式產(chǎn)生諧振：調(diào)節(jié)L或C使電路諧振，根據(jù)給定的公式調(diào)整電感元件與電容元件的關(guān)系；調(diào)節(jié)電源頻率，使得電源輸出頻率與電路固有頻率相等。

串聯(lián)諧廠家/變頻諧振試驗裝置找頻快應(yīng)用范圍：

是運用串聯(lián)諧振的原理，利用勵磁變壓器激發(fā)串聯(lián)諧振回路，通過調(diào)節(jié)變頻控制器的輸出頻率，使得回路中的電抗器電感L和試品電容C發(fā)生串聯(lián)諧振，諧振電壓即為試品上所加電壓。變頻串聯(lián)諧振裝置廣泛用于電力、冶金、石油、化工等行業(yè)，適用于大容量、高電壓的電容性試品的交接和預(yù)防性試驗。

適用于10KV、35KV、110KV、220KV、500KV交聯(lián)聚乙烯電力電纜交流耐壓試驗

變頻串聯(lián)諧振試驗裝置適用于66KV、110KV、220KV、500KV、GIS交流耐壓試驗

適用于大型發(fā)電機組、電力變壓器工頻耐壓

適用于電力變壓器的感應(yīng)耐壓試驗

變頻串聯(lián)諧振試驗裝置常見故障及分析

1．主機找不到諧振點。

原因：系統(tǒng)諧振點在主機的輸出頻率范圍之外；系統(tǒng)接線錯誤；

系統(tǒng)未可靠接地；高壓采樣反饋信號開路或連接不可靠；試品有故障。

2．主機復(fù)位。

原因：主機供電電源波動；外界強磁場干擾；主機未可靠接地；

3．Ｑ值偏低，即電壓升不上去，或升不高。

原因：試品放電泄漏；

電抗器磁路受干擾，例如電抗器被放置在磁場屏蔽范圍內(nèi)。

4．電源跳閘。

原因：諧振系統(tǒng)回路短路。

說明：以上故障原因僅供參考。

注意：

請勿擅自打開箱體，拆卸或更換元器件，如有質(zhì)量問題，請與本公司。

串聯(lián)諧廠家/變頻諧振試驗裝置找頻快技術(shù)指標(biāo)：

（1）工作溫度范圍：-10~45℃

（2）工作濕度范圍：≤90%

（3）海拔：≤1000m

（4）供電電源電壓：380V±10%、三相或220V±10%、單相（10KW及以下）

50/60Hz

（5）供電電源容量：0-300KW

（6）額定輸出電壓：0-1000KV

（7）額定輸出容量：0-35MVA

（8）工作頻率范圍：30-300Hz（亦可根據(jù)用戶要求放寬頻率范圍）

（9）頻率調(diào)節(jié)分辨率：0.02Hz；   不穩(wěn)定度≤0.05%

（10）噪音：≤60dB

（11）系統(tǒng)測量精度：1級

（12）輸出波形：正弦波，波形畸變率≤1%

（13）電抗器Q值：30-120

（14）系統(tǒng)具有IGBT、過電壓、過電流、試品閃絡(luò)等全自動保護

變頻串聯(lián)諧振試驗裝置實現(xiàn)諧振的方式

　　1）LC不變，改變W0

　　W0由電路本身的參數(shù)決定，一個rlc串聯(lián)諧振電路只能有一個對應(yīng)的W0,當(dāng)外加頻率等于諧振頻率時，電路發(fā)生諧振。

　　2）電源頻率不變，改變L或C（常改變C）

　　通過諧振條件產(chǎn)生的原因，可以知道兩種調(diào)節(jié)方式產(chǎn)生諧振：調(diào)節(jié)L或C使電路諧振，根據(jù)給定的公式調(diào)整電感元件與電容元件的關(guān)系；調(diào)節(jié)電源頻率，使得電源輸出頻率與電路固有頻率相等

　　1）電路阻抗最小：Z=R

　　2）電路中電流最大

　　3）總電壓與總電流同相位，電路呈陽性

　　4）電阻兩端電壓等于總電壓，電感與電容兩端電壓相等，相位相反，且為總電壓的Q倍。

　　串聯(lián)電路諧振試驗原則

　　1）串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置在較低頻率時，試驗電流較??；

　　2）電抗器并聯(lián)，電感量減小，耐壓不變；電抗器串聯(lián)，電感量增大，耐壓值升高；

　　3）電抗器并聯(lián)式適合做長電纜，電抗器單臺使用或者串聯(lián)式適合做斷電纜。

操作步驟：

1.根據(jù)各種試品接線方法，保證各點的接觸良好，保證一點接地，且接地點距分壓器zui近。

2.確保連接無誤后接通電源。

3.打開主機電源開關(guān)會顯示主菜單

4.將光標(biāo)移至：試驗參數(shù)設(shè)置；按確認(rèn)鍵。進行各項參數(shù)的修改，用上下左右

和確認(rèn)鍵執(zhí)行。

然后返回主菜單。

5. 將光標(biāo)移至：系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置：按確認(rèn)鍵。進行時間參數(shù)的修改，用上下左右和確認(rèn)鍵執(zhí)行。

6. 將光標(biāo)移至：進入試驗：按確認(rèn)鍵。

7. 此時接上IGBT的輸入電壓選擇試驗方法，進行試品的試驗，用確認(rèn)鍵執(zhí)行。

8. 選擇手動試驗時，行的是找到試品諧振點，用上下鍵進行，使試驗電壓在zui高點；在完成了此項操作后請按面板調(diào)壓鍵用左右鍵移位，上鍵增加激勵功率當(dāng)接近試驗電壓后用右移鍵將光標(biāo)移至小數(shù)點后慢慢增加功率防止試品擊穿，到額定電壓后主機開始自動計時至設(shè)定時間退出試驗。選擇自動試驗時只要按了確認(rèn)鍵就不要這些操作了。