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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子 |
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1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
測量|Z|、L、C、R 測量頻率4Hz~5MHz 測量時間：0.5ms 同時進行掃頻測量和LCR測量
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
日置阻抗分析儀IM3570
1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
測量|Z|、L、C、R 測量頻率4Hz~5MHz 測量時間：0.5ms 同時進行掃頻測量和LCR測量
概要
1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
搭配4ch掃描模塊機架，更能實現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測量
基本參數(shù)
測量模式
LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續(xù)測量
測量參數(shù)
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測量量程
100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定）
顯示范圍
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示絕對值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測量頻率
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）
測量信號電平
V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上）
輸出阻抗
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
顯示
彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF
測量時間
0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值）
測量速度
FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能
DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能
接口
EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN
電源
AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
打印
拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）
接口
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)
電源
AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
體積和重量：330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件：電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊×1
日置阻抗分析儀IM3570
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