Olympus奧林巴斯45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測(cè)厚儀
應(yīng)用
檢測(cè)管道中的內(nèi)壁減少情況。
背景
局部墻壁減少并不總是由腐蝕引起。在板材軋制期間或在管材制造過(guò)程中形成的初始階段可以產(chǎn)生壁減少。鋼中的印?？梢酝ㄟ^(guò)成形輥產(chǎn)生。施加到成形輥的高表面壓力和熱量會(huì)引起剝落。剝落并從輥?zhàn)由厦撾x的金屬片可落入進(jìn)入板的路徑中，使得片件粘合到輥?zhàn)由?。一旦碎片與輥?zhàn)咏Y(jié)合，就會(huì)在被軋制的板材中開(kāi)始出現(xiàn)印痕。因此，由輥引起的印模的術(shù)語(yǔ)偽影看起來(lái)類(lèi)似于由腐蝕引起的壁減少。
在許多情況下，新管道將投入使用此類(lèi)工件。當(dāng)管道運(yùn)行后再進(jìn)行腐蝕檢查時(shí)，檢查人員可能會(huì)發(fā)現(xiàn)這些墻壁減少偽影并將其誤認(rèn)為是腐蝕單元。如果發(fā)生這種情況，工藝工程師可能會(huì)推斷出不正確的腐蝕速率并導(dǎo)致不正確的工藝變化和/或化學(xué)添加 然而，簡(jiǎn)單的超聲測(cè)量程序可以在制造或安裝階段識(shí)別偽影。
設(shè)備
型號(hào)38DLP PLUS厚度計(jì)，或帶波形顯示選件的45MG型應(yīng)變計(jì)，以及D790雙元件傳感器（5 MHz）。
例
下圖中的管道是采用ERW工藝制造的8“x .250"壁碳鋼1018等級(jí)。深色凹痕是減少在管道形成過(guò)程中發(fā)生的壁厚的偽影。ID或OD上沒(méi)有腐蝕。
厚度測(cè)量以與腐蝕測(cè)量相同的方式進(jìn)行。在左圖中，量具讀取全壁厚度。在右圖中，較薄的讀數(shù)表示內(nèi)表面上的壁變薄偽影。
在試圖區(qū)分制造工件和腐蝕電池時(shí)，檢查員可能會(huì)考慮以下因素：
確定管道是ERW還是無(wú)縫管道。
確定墻體減少的方向是軸線而不是隨機(jī)。
如果管道回路中的多個(gè)或所有接頭都是ERW，請(qǐng)確定每個(gè)接頭上的工件所在的線。檢查員可能會(huì)發(fā)現(xiàn)線路相對(duì)于管道改變方位角位置。
如果發(fā)現(xiàn)電路中的管道連接是無(wú)縫的并且沒(méi)有墻壁減少。
結(jié)論
可以通過(guò)超聲波厚度測(cè)量來(lái)檢測(cè)管道中的制造偽影。執(zhí)行管道厚度測(cè)量的檢查員應(yīng)了解這種損壞機(jī)制。向過(guò)程工廠質(zhì)量控制檢查員通知該潛在問(wèn)題以避免過(guò)高估計(jì)腐蝕速率也很重要。
45MG雙晶單晶高溫涂層壁厚超聲波測(cè)厚儀
手持式45MG是一款配置有各種測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的超聲測(cè)厚儀。這款儀器與所有奧林巴斯雙晶和單晶探頭探頭兼容。
38DL PLUS
38DL PLUS是一款高級(jí)超聲測(cè)厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對(duì)內(nèi)部腐蝕的部件進(jìn)行檢測(cè)。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對(duì)薄材料、極厚材料以及多層材料進(jìn)行的厚度測(cè)量。
| 測(cè)量 | 雙晶探頭測(cè)量模式 | 從激勵(lì)脈沖后延遲到*個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 |
|---|---|---|
| 自動(dòng)回波到回波（可選） | 在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。 | |
| 穿透涂層測(cè)量 （可選） | 利用單個(gè)底面回波，測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探頭） | |
| 單晶探頭測(cè)量模式（可選） | 模式1：激勵(lì)脈沖與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 模式2：延遲塊回波與*個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭） 模式3：在激勵(lì)脈沖之后，位于*個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。 | |
| 厚度范圍 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測(cè)量較全的范圍需要使用單晶選項(xiàng)） | |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） | |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 單晶選項(xiàng)：0.001毫米（0.0001英寸） | |
| 探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（單晶選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） | |
| 一般規(guī)格 | 操作溫度范圍 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 鍵盤(pán) | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤(pán)，帶有觸感及聲音反饋 | |
| 機(jī)殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼，機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 | |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
| 重量 | 430.9克 | |
| 電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng) | |
| 電池工作時(shí)間 | 3節(jié)AA堿性電池：20到21小時(shí) 3節(jié)AA鎳氫電池：22到23小時(shí) 3節(jié)AA鋰離子電池：35到36小時(shí) | |
| 標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn) | |
| 顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 檢波 | 全波、RF波、正半波、負(fù)半波（波形選項(xiàng)） | |
| 輸入/輸出 | USB | 2.0從接口 |
| 存儲(chǔ)卡 | 最大容量：2 GB可插拔microSD存儲(chǔ)卡 | |
| 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器（可選） | 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過(guò)USB或microSD卡識(shí)別、存儲(chǔ)、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
| 容量 | 475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形 | |
| 文件名稱(chēng)和ID編碼 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼 | |
| 文件結(jié)構(gòu) | 6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) | |
| 報(bào)告 | 機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和最小值/最大值 |
標(biāo)準(zhǔn)配置
45MG數(shù)字式超聲測(cè)厚儀
AA堿性電池
2階試塊和耦合劑
USB線纜
用戶(hù)手冊(cè)，存于CD盤(pán)上
測(cè)量功能：最小值/最大值模式、兩個(gè)報(bào)警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
軟件選項(xiàng)
45MG-SE (U8147022)：?jiǎn)尉нx項(xiàng)，使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-HP (U8147023)：?jiǎn)尉Ц叽┩高x項(xiàng)，使用頻率范圍為0.5 MHz～30 MHz的單晶探頭
45MG-EETC (U8147021)：回波到回波和穿透涂層
45MG-WF (U8147019)：波形選項(xiàng)
45MG-DL (U8147020)：內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器，包含GageView接口程序
選購(gòu)附件
MICROSSD-ADP-2GB (U8779307)： 2 GB外置microSD存儲(chǔ)卡
45MG-RPC (U8779676)： 帶支架的橡膠保護(hù)套
回波到回波
測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波，顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度：
自動(dòng)回波到回波
手動(dòng)回波到回波（僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)），可進(jìn)行以下操作：
增益調(diào)整
擴(kuò)展空白
回波空白
穿透涂層技術(shù)
| 使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要得到金屬的厚度，無(wú)需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
顯示A掃描的自動(dòng)回波到回波模式
顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式（波形選項(xiàng)未被激活）
調(diào)整*個(gè)回波空白的手動(dòng)回波到回波模式
顯示可選波形的穿透涂層模式
用戶(hù)使用單晶軟件選項(xiàng)，可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的厚度測(cè)量。可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
大多數(shù)薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件
汽缸孔、渦輪葉片
玻璃燈泡、瓶子
薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
用戶(hù)使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料
厚鑄造金屬部件
厚橡膠輪胎、履帶
玻璃纖維船體、儲(chǔ)存罐
復(fù)合材料板
對(duì)于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭，分辨率為0.01毫米（0.001英寸）
45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)包含GageView接口程序。
數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)
內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù)，或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
32位字符的文件名稱(chēng)
20位字符的ID#（TML#）編碼
6個(gè)文件格式：遞增型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過(guò)GageView在PC機(jī)上手動(dòng)創(chuàng)建的文件格式
內(nèi)置microSD存儲(chǔ)卡和可插拔microSD存儲(chǔ)卡
可以在內(nèi)置和可插拔microSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件
標(biāo)準(zhǔn)型USB通訊
單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸
機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告
機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序可與45MG儀器通訊，方法是：
通過(guò)USB端口
讀取microSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù)，或在存儲(chǔ)卡上寫(xiě)入信息
可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號(hào)分隔值）格式或.txt格式，直接導(dǎo)出到microSD存儲(chǔ)卡
在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過(guò)不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。
可以方便地生成并打印包含測(cè)量值、ID編碼及其它參數(shù)的測(cè)量報(bào)告。
機(jī)載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色
GageView接口程序
包含在數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)中
基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來(lái)自45MG測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)
創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)
編輯所存數(shù)據(jù)
顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值
從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié)，或上傳厚度測(cè)量總結(jié)至測(cè)厚儀
將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其它程序
收集捕獲的屏幕
打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告
升級(jí)45MG軟件
下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件
在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過(guò)不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描
用戶(hù)使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式，可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形（或稱(chēng)A掃描），核查厚度測(cè)量讀數(shù)，對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整，以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中最大限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、個(gè)回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
化工儀器網(wǎng)