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島津Shimazu 元素分析與光譜儀: 便攜式拉曼光電直讀光譜儀電感耦合等離子發(fā)射光譜/質譜儀分光光度計傅立葉變換紅外光譜儀波長色散型X射線熒光光譜儀能量色散型X射線熒光光譜儀 X射線衍射儀

TQC /SHEEN涂料測試: 粘度測量涂布打樣細度測量比重測量涂膜厚度附著力測量色彩分辨形變/彈性硬度測試光澤度測量溫度檢測表面測試耐磨性測試清潔度檢測

其他設備: 頗爾Pall 過濾與分離 Hentec Industries 可焊性測試系統(tǒng) 賓得測試箱飛馳Fritsch 球磨粉碎與粒度分析 Systech Illinois 微量氧微量水測試博勢Proceq巡鷹智檢便攜硬度及探傷 C&W 鹽霧箱阿朗Arun 直讀光譜儀小坂Kosaka 表面測量儀賽默飛世爾Thermo Fisher（FEI）掃描電鏡 TMI 軟包表面性能測試 Messmer Büchel 軟包強度測試 CMC-KUHNKE 金屬罐體檢測測試 Ray-Ran 高分子聚合物測試 Eagle Vision 包裝表面視覺檢測 TM Electronics 檢漏儀

DM6 M LIBS 材料分析顯微鏡將目視檢驗和定性化學檢驗組合在一個工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗相比，測定微觀結構成分的時間可節(jié)省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內針對您在顯微鏡中看到的材料結構提供準確的化學元素圖譜。

實現快速精確材料分析的二合一系統(tǒng)

DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結構的化學成分。

識別感興趣的微觀結構成分，隨后只需單擊一下，即可觸發(fā) LIBS 分析。

優(yōu)勢概覽

*可根據要求提供證明

目視和化學材料檢驗二合一

用于目視和化學分析的二合一系統(tǒng)

1 秒即可獲得化學元素圖譜

無需樣品制備

完成！只需一次單擊，即可準確檢查通過目鏡或攝像頭觀察的物質，從而快速簡單的識別和解釋。操作員不需要額外的專業(yè)知識。

無需 SEM 樣品制備

為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進行材料分析能節(jié)省 90% 的時間？

因為這種解決方案：

無需樣品制備和轉移；

無需系統(tǒng)調節(jié)；

無需重新定位感興趣區(qū)域 (ROI)。減少工作流程

將工作流程精簡至只有一個步驟，以結果為重點。

迅速決定該做什么

將多種工具組合起來分析樣品的顯微結構成分，將在一秒鐘內獲得所有信息，助您做出正確的決策。

在 90% 以上的情況下，用戶都能獲得足夠的數據，對下一步行動做出自信的決策 (例如，是否需要使用 SEM 進行更詳細的分析來確認污染源)。*

*基于用戶反饋

組件清潔度分析

DM6 M LIBS 二合一系統(tǒng)與 Cleanliness Expert 分析軟件相結合，讓您僅使用一臺儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進行目視和化學檢驗。

這樣可以更輕松地找到污染源。

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