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為SEM和TEM分析生產(chǎn)同質(zhì)和導(dǎo)電的金屬或碳涂層，之前從未有過比與Leica EM ACE200涂層系統(tǒng)更方便的設(shè)備了。配置為濺射鍍膜機(jī)或碳絲蒸發(fā)鍍膜機(jī)后，可以...

您選擇了用于TEM和FE-SEM分析的分辨率。Leica EM ACE600是的多用途高真空薄膜沉積系統(tǒng)，設(shè)計(jì)來根據(jù)您的FE-SEM和TEM應(yīng)用的需要生產(chǎn)非常薄...

高壓冷凍能夠捕捉精細(xì)結(jié)構(gòu)和細(xì)胞動(dòng)力學(xué)的錯(cuò)綜變化。高壓冷凍結(jié)合光刺激是您發(fā)現(xiàn)奧妙的平臺(tái)。同步到毫秒的凍結(jié)和刺激能夠凍結(jié)您最感興趣的那一刻；以納米尺度和毫秒時(shí)間精度...

Leica EM VCT500電鏡樣品冷凍傳輸系統(tǒng)可以在冷凍或常溫，真空或保護(hù)氣體條件下傳輸樣品，有效避免樣品在不同的制備和分析系統(tǒng)之間傳輸時(shí)受到污染和形成冰晶

DM6 M LIBS 材料分析顯微鏡將目視檢驗(yàn)和定性化學(xué)檢驗(yàn)組合在一個(gè)工作步驟中，與使用傳統(tǒng) SEM/EDS 檢驗(yàn)相比， 測(cè)定微觀結(jié)構(gòu)成分的時(shí)間可節(jié)省 90%。...

在檢查和返工過程中，效率和可靠性至關(guān)重要。根據(jù)您的需求選擇合適的解決方案，這取決于多個(gè)因素，例如待處理樣本的類型、使用顯微鏡的人數(shù)以及使用頻率。使用Ivesta...

M125 C、M165 C、M205 C 和 M205 A 體視顯微鏡專精于醫(yī)療設(shè)備、汽車、電子裝置和生命科學(xué)等領(lǐng)域，可研究最細(xì)微的結(jié)構(gòu)。

Emspira 3在同一個(gè)系統(tǒng)中結(jié)合了執(zhí)行目視檢查所需的所有功能，包括比較、測(cè)量和文檔共享。使用Emspira 3檢查不同的樣本，快速達(dá)到高要求、高通量的目標(biāo)。...

徠卡DM12000M全新的光學(xué)設(shè)計(jì),可以提供宏觀模式快速初檢,以及傾斜紫外光路功能（OUV, 傾斜紫外觀察模式） 不單提升了分辨率還提高了檢查12英寸（300毫...

在競(jìng)爭(zhēng)中保持是您事業(yè)前進(jìn)的動(dòng)力。無(wú)論您從事金相學(xué)、醫(yī)療設(shè)備制造還是微電子領(lǐng)域，速度都顯得至關(guān)重要。您可根據(jù)自身需求定制徠卡這款高度模塊化的倒置式顯微鏡。它將徠卡...

LEICA EM TXP是一款的可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對(duì)樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高...

為室溫切片設(shè)計(jì)的超薄切片機(jī)和為冷凍切片的冷凍超薄切片機(jī)UC Enuity新上線自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)修塊功能，大大降低常規(guī)切片和連續(xù)超薄切片技術(shù)門檻，讓您輕松掌握切片技...

徠卡Leica Enersight 顯微鏡軟件平臺(tái)在檢查和返工過程中，效率和可靠性至關(guān)重要。根據(jù)您的需求選擇合適的解決方案，這取決于多個(gè)因素，例如待處理樣本的類...

徠卡激光掃描共聚焦顯微鏡系統(tǒng)，一個(gè)基于模塊化設(shè)計(jì)的激光共聚焦平臺(tái)，集成多種功能，提供精確的三維成像。STELLARIS是一個(gè)重新設(shè)計(jì)的共聚焦顯微鏡平臺(tái)。STEL...

Leica DVM6 超景深數(shù)碼3D視頻顯微鏡如果您從事質(zhì)量控制/保證、故障分析、研發(fā)工作，在顯微鏡下搜尋細(xì)節(jié)可能會(huì)占用您大量時(shí)間。

您是否需要在許多樣品和材料科學(xué)與分析領(lǐng)域進(jìn)行成像、測(cè)量并分析類似特點(diǎn)？正置材料顯微鏡 Leica DM4 M 是您理想的工業(yè)顯微鏡，無(wú)論您是新手還是專業(yè)人士。&...

徠卡EM UC7提供半薄, 超薄切片，以及樣品表面光滑處理，為透射電鏡，掃描電鏡，原子力顯微鏡和光鏡檢驗(yàn)生物和工業(yè)樣品。超薄切片的新標(biāo)準(zhǔn)：徠卡EM UC7樹立新...

幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面，在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部真實(shí)結(jié)構(gòu)信息，在使用徠卡EM TIC3X之前，這類工作從未變得如此之簡(jiǎn)單。徠卡EM ...

您是否需要在許多樣品和材料科學(xué)與分析領(lǐng)域進(jìn)行成像、測(cè)量并分析類似特點(diǎn)？Leica DM4 M 和 Leica DM6 M 是您理想的工業(yè)顯微鏡，無(wú)論您是新手還是...

此材料分析顯微鏡對(duì)于金相學(xué)、地球科學(xué)、法醫(yī)檢查以及材料質(zhì)控和研究來說，它是進(jìn)行所有類型常規(guī)檢查的理想檢查工具。徠卡 DM2700 M 向您展示了顯微鏡的可靠性，...