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| 價格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 綜合 |
產品簡介
D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀采用達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區(qū)）的切換，讓光路互換、重新對光等問題成為歷史。
詳情介紹
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供*保證！
優(yōu)良的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀技術指標：
●Theta/theta 立式測角儀
●2Theta角度范圍：-110~168°
●角度精度：0.0001度
●Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
●探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
●儀器尺寸：1868x1300x1135mm
●重量：770kg
D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀主要功能
●TWIN / TWIN 光路
布魯克TWIN-TWIN光路設計極大地簡化了D8 ADVANCE的操作，使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換。該系統(tǒng)無需人工干預，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換，且無需人工干預，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。
●動態(tài)光束優(yōu)化（DBO）
布魯克DBO功能為X射線衍射的數據質量樹立了全新的重要基準。馬達驅動發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能，可為您提供高質量的數據——尤其是在低2Θ角度時。除此之外，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。
●LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數據的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag），具有高計數率和好的角分辨率，是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。
LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率，著實出色，是市面上性能好的的熒光過濾器探測器系統(tǒng)。借助它，您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100％過濾，而且無需金屬濾波片，因此數據也不會存在偽影，如殘余K?和吸收邊。同樣，也無需用到會消除強度的二級單色器。
布魯克提供LYNXEYE XE-T探測器保證：交貨時保證無壞道！
應用:
●物相定性分析
●結晶度及非晶相含量分析
●結構精修及解析
●物相定量分析
●點陣參數精確測量
●無標樣定量分析
●微觀應變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘余應力
●低角度介孔材料測量
●織構及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測量
●小角散射
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