菲希爾小型便攜式鐵素體含量測(cè)試儀

—— 奧氏體和雙相鋼中鐵素體含量的測(cè)量

特征：

• 在現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室中快速，無損地測(cè)量鐵素體含量。

• 可通過鐵素體百分比“％Fe"或鐵素體數(shù)“ FN"測(cè)量鐵素體

• 測(cè)量范圍鐵為0.1％至80％或0.1至110 FN

• 根據(jù)ISO 17655或“ Basler標(biāo)準(zhǔn)"進(jìn)行測(cè)量

• 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)可追溯到滿足ISO 8249和AWS A4.2M要求的認(rèn)可的TWI二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。

• 可以根據(jù)客戶特定的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校正校準(zhǔn)

FERITSCOPE®根據(jù)磁感應(yīng)方法測(cè)量奧氏體和雙相鋼中的鐵素體含量。測(cè)量所有可磁化組織的截面，即，除了δ鐵素體之外，還測(cè)量例如應(yīng)變誘發(fā)的馬氏體或其他鐵素體相。該儀器適合根據(jù)DIN EN ISO 17655進(jìn)行測(cè)量。應(yīng)用領(lǐng)域?yàn)楝F(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，例如，奧氏體鍍層以及不銹鋼管，容器，鍋爐或其他由奧氏體或雙相鋼制成的產(chǎn)品中的焊縫。

雙相鋼越來越多地用于化學(xué)和石化工業(yè)，例如。例如，用于鍋爐和管道。焊縫區(qū)域的鐵素體缺陷會(huì)導(dǎo)致強(qiáng)度降低，而鐵素體含量過多則會(huì)導(dǎo)致韌性和延展性降低。尤其是在焊接雙相鋼時(shí)，由于不適當(dāng)?shù)暮附犹畛洳牧匣蛲ㄟ^不良的熱輸入或散熱，焊接區(qū)域中的鐵素體含量很容易取為不利的值。只有現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量才能保證加工不會(huì)以不利的方式改變**鐵素體含量，但會(huì)降低機(jī)械性能或耐腐蝕性。

簡單快速的測(cè)量：

使用FMP30C時(shí)，容易準(zhǔn)確地測(cè)量鐵素體含量。將探頭放置在樣品表面后，讀數(shù)會(huì)自動(dòng)顯示并存儲(chǔ)在儀器中。探頭也可以放置在難以觸及的區(qū)域。對(duì)于此類應(yīng)用，儀器具有“外部啟動(dòng)"功能，只需按一下按鈕即可觸發(fā)測(cè)量。這是在管道，孔或凹槽中進(jìn)行測(cè)量的理想選擇。

通過“連續(xù)顯示"儀器功能，可以輕松找到拋光表面的焊縫。在啟用了此功能的情況下用探頭掃描表面時(shí)，僅顯示連續(xù)讀數(shù)。鐵素體含量讀數(shù)的變化表明已找到焊縫。為了易于沿著焊縫測(cè)量鐵素體含量，可以使用“連續(xù)測(cè)量捕獲"功能。在探頭定位的情況下掃描焊縫時(shí)，會(huì)采集并存儲(chǔ)連續(xù)的讀數(shù)。這提供了沿焊縫的鐵素體含量分布圖。

菲希爾小型便攜式鐵素體含量測(cè)試儀校準(zhǔn)片：

為了獲得可比的測(cè)量結(jié)果，必須使用可以追溯到*的二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)儀器進(jìn)行調(diào)整或校準(zhǔn)。 Helmut Fischer提供經(jīng)過認(rèn)證的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品，可追溯到TWI二級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，以進(jìn)行校正和主校準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)除了列出了鐵素體編號(hào)FN之外，還列出了％Fe值?？梢酝ㄟ^使用客戶特定的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校正校準(zhǔn)或通過校正因子（包括在內(nèi)）來考慮包括測(cè)量零件形狀（強(qiáng)曲率，含鐵氧體涂層的厚度等）在內(nèi)的影響。歸一化和校正校準(zhǔn)特定于應(yīng)用程序存儲(chǔ)在儀器的相應(yīng)應(yīng)用程序存儲(chǔ)器中。

型號(hào)：605-564
說明：一套5個(gè)鐵素體含量標(biāo)準(zhǔn)，0.3FN-140FN（0.3-105Fe％）。鐵素體含量約為0.3 FN（0.3 Fe％），1.5 FN（1.5 fe％），10 FN（10 Fe％），45 FN（40 fe％）和110 FN（80 fe％）;加上標(biāo)準(zhǔn)化基礎(chǔ)140 FN（飽和度為105 fe％）。

圖1：測(cè)量焊縫處的鐵素體含量

應(yīng)用舉例：

圖2:雙相不銹鋼制造的高防腐性能的鍋爐

篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測(cè)儀器設(shè)備有：
   ==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
   ==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量儀；
   ==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量儀、千分尺、卡尺；
   ==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
   ==>>德國艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
   ==>>美國API  XD系列激光干涉儀；
   ==>>美國GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
   ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
   ==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
   ==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
   ==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
   ==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
   ==>>TRIMOS測(cè)長儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長機(jī)；
   ==>>杭州思看科技三維掃描儀.