注意： 

1、為了人身及設(shè)備安全，使用前請(qǐng)?jiān)敿?xì)閱讀說(shuō)明書，并嚴(yán)格按照要求規(guī)范操作。

2、試驗(yàn)前請(qǐng)將儀器可靠接地。

3、本測(cè)試儀為互感器離線測(cè)試裝置，在對(duì)互感器進(jìn)行各項(xiàng)試驗(yàn)時(shí)，請(qǐng)務(wù)必將互感器各端子上的連接線甩開。

4、CT變比極性試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)將不檢測(cè)的二次繞組短接。

5、做PT伏安特性試驗(yàn)時(shí)，一次繞組的零位端接地。

6、實(shí)驗(yàn)中嚴(yán)禁觸碰所有測(cè)試端子。

微機(jī)型互感器伏安特性測(cè)試儀

機(jī)操作軟件使用說(shuō)明 

• 將配套光盤放入計(jì)算機(jī)光驅(qū)中，解壓“軟件”C盤根目錄。

11.2先，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。

11.3安裝完畢后，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖27即為上位機(jī)操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語(yǔ)言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤連接計(jì)算機(jī)。

b）、在圖27中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖28操作窗口，在圖28中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說(shuō)明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后，選擇“確定”出現(xiàn)圖29界面，在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。

11.7 載入全部完成后，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項(xiàng)，則以WORD的形式顯示結(jié)果

11.9  如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，請(qǐng)先清除上次載入的數(shù)據(jù)。

微機(jī)型互感器伏安特性測(cè)試儀