目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> 原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)
產(chǎn)品描述
PicoFemto透射電鏡原位光電性質(zhì)樣品桿(非定量力+電+光+三維操縱)在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元,配合外接光譜儀或激光器實現(xiàn)光電測量或者CL測量。
△ 光纖外徑250um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo);
△ 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡;
△ 可選SMA接頭、FC接頭。
△ 集成光學(xué)模塊,可應(yīng)用于CL光譜、光電探測及電致發(fā)光光譜等研究;
△ 光電一體化解決方案,具有高拓展性;
△ 高穩(wěn)定性,保證電鏡原有分辨率;
△ 超長的壽命:
△ 超低維護成本:設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實現(xiàn)模塊化量產(chǎn),維護成本低;
△ 龐大的用戶群:在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流;
△ 成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò):在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地擁有若干技術(shù)支持網(wǎng)點,24小時提供技術(shù)支持
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