放大率一致性測(cè)試卡

產(chǎn)品名稱：放大率一致性測(cè)試卡

產(chǎn)品編號(hào)：20250206-09

產(chǎn)品質(zhì)保：12個(gè)月

產(chǎn)品簡介：X射線成像放大率一致性測(cè)試卡作為精密檢測(cè)工具，其核心參數(shù)包括基板尺寸、材料密度、標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)記點(diǎn)間距及鉛箔厚度等，常見規(guī)格如基板采用高純度鋁或高分子復(fù)合材料制成，尺寸范圍覆蓋50mm至200mm以滿足不同設(shè)備視野需求，表面嵌入的鉛制標(biāo)記陣列或網(wǎng)格結(jié)構(gòu)精度達(dá)微米級(jí)，鉛箔厚度通常控制在0.03-0.05mm以平衡X射線穿透性與成像對(duì)比度。該測(cè)試卡通過內(nèi)置的規(guī)則幾何圖案（如等距同心圓、正交網(wǎng)格或矩陣點(diǎn)陣）量化評(píng)估X射線系統(tǒng)在不同成像區(qū)域的放大倍率偏差，其用途主要集中于放射衛(wèi)生療影像設(shè)備與工業(yè)無損檢測(cè)領(lǐng)域，例如在放射衛(wèi)生療場(chǎng)景中，可驗(yàn)證CT機(jī)、DR設(shè)備或移動(dòng)在不同投照角度下的圖像幾何失真度，確保病灶尺寸測(cè)量的準(zhǔn)確性；在工業(yè)檢測(cè)中則用于校準(zhǔn)微焦點(diǎn)X射線機(jī)的投影畸變，防止電子元器件、焊接點(diǎn)等微觀結(jié)構(gòu)的尺寸誤判。測(cè)試時(shí)需將卡片置于被測(cè)物體與探測(cè)器之間的標(biāo)準(zhǔn)位置，通過分析成像中標(biāo)記點(diǎn)的實(shí)際間距與理論值的比例關(guān)系，計(jì)算系統(tǒng)放大率的空間一致性，典型應(yīng)用場(chǎng)景包括設(shè)備安裝驗(yàn)收、定期質(zhì)控檢測(cè)及維修后性能驗(yàn)證，其數(shù)據(jù)可為設(shè)備校準(zhǔn)提供直接依據(jù)，有效避免因放大率漂移導(dǎo)致的診斷誤差或工業(yè)品控失效。部分高型號(hào)還集成溫濕度耐受特性，適應(yīng)-20℃至60℃的復(fù)雜工況環(huán)境，確保檢測(cè)結(jié)果的長期穩(wěn)定性。

廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，竭誠為您服務(wù)，我司可以非標(biāo)訂制符合客戶個(gè)性化要求的產(chǎn)品和設(shè)備。

是否可以非標(biāo)訂制：可以按照客戶要求非標(biāo)定制：放大率一致性測(cè)試卡

產(chǎn)品編號(hào)：20250206-09