3380 VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 50/100 MHz 測(cè)試頻率
• 50/100 Mbps data rate
• 1024 I/O pins (zui高可至1280 I/O pins)
• 平行測(cè)試可達(dá)1024 sites
• 32/64 M pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA,)
• Real parallel trim/match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
• 高速時(shí)序測(cè)試單位 (HSTMU)
• AD/DA 功能卡 選配
• SCAN 測(cè)試功能 選配 (zui高 1G M/chain)
• ALPG 測(cè)試選配供記憶體IC用
• STDF 工具支援
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (J750, D10,V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7操作環(huán)境
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 程式語(yǔ)言同 3380P & 3360P