3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)
主要特色：
?25/50 MHz 測(cè)試頻率
?25/50 Mbps data rate
?256 logic I/O pins
?8M （標(biāo)準(zhǔn)） /16M （選購(gòu)） Pattern 記憶體
?彈性化硬體結(jié)構(gòu) （互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD

3360-P VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 25/50 MHz 測(cè)試頻率
• 25/50 Mbps data rate
• 256 logic I/O pins
• 8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購(gòu)) Pattern 記憶體
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (互換式 I/O, VI, ADDA, and LCD)
• 平行測(cè)試可達(dá) 32 devices
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10,J750, ITS9K, TS670 )
• AD/DA卡 選配 (16 ~24 bits)
• SCAN 測(cè)試 選配 (max 512M/chain)
• ALPG 測(cè)試 選配供記憶體用
• STDF 工具支援
• 人性化 Windows XP 操作環(huán)境
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言