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試驗(yàn)對(duì)于電子產(chǎn)品的發(fā)展
閱讀:859 發(fā)布時(shí)間:2018-1-12
試驗(yàn)對(duì)于電子產(chǎn)品的發(fā)展
所謂可靠性試驗(yàn),是通過(guò)試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問(wèn)題,有些改進(jìn)在試驗(yàn)中了產(chǎn)品的問(wèn)題,有些改進(jìn)在試驗(yàn)中立即著手進(jìn)行,有些延緩到試驗(yàn)結(jié)束后再作改進(jìn),這樣周而復(fù)始地循環(huán),并且一個(gè)循環(huán)比一個(gè)循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長(zhǎng)??煽啃栽囼?yàn)主要表現(xiàn)為系統(tǒng)試驗(yàn)、氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)和人為正常使用等各方面的試驗(yàn)來(lái)暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié),進(jìn)行綜合的科學(xué)分析,做相應(yīng)的改進(jìn),使得電子產(chǎn)品在設(shè)計(jì)研制階段對(duì)其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。
任何一款產(chǎn)品都有其存在的可靠性,而環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)作為可靠性試驗(yàn)的重要組成部分,通過(guò)模擬或加強(qiáng)各種環(huán)境因素,檢測(cè)產(chǎn)品在規(guī)定的條件下及規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力。在現(xiàn)今的社會(huì)科學(xué)發(fā)展情景來(lái)講,無(wú)疑可靠性試驗(yàn)對(duì)于快速發(fā)展的電子類(lèi)產(chǎn)品發(fā)揮著舉足輕重的意義。
首先,我們了解到環(huán)境可靠性試驗(yàn)有很多種方式或手段,其中對(duì)于電子產(chǎn)品表現(xiàn)zui為常見(jiàn)和試驗(yàn)頻率的有模擬溫濕度的氣候環(huán)境和模擬物理振動(dòng)或撞擊等機(jī)械環(huán)境,電子產(chǎn)品是否適應(yīng)預(yù)定的環(huán)境和滿(mǎn)足可靠性指標(biāo),必須通過(guò)可靠性試驗(yàn)進(jìn)行鑒定或考核;有時(shí)還需通過(guò)試驗(yàn)來(lái)暴露產(chǎn)品在設(shè)計(jì)和工藝中存在的問(wèn)題,通過(guò)故障分析確定主要的故障模式和發(fā)生的原因,進(jìn)而采取改進(jìn)措施。所以可靠性試驗(yàn)不僅是可靠性活動(dòng)的重要環(huán)節(jié),也是進(jìn)一步提高產(chǎn)品可靠性的有效措施。
溫濕度等氣候環(huán)境檢測(cè)設(shè)備有高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等等,這些設(shè)備可以檢測(cè)電子產(chǎn)品的一定高溫、低溫、高濕或干燥的情況下,電路控制等軟件系統(tǒng)是否能正常運(yùn)行或正常運(yùn)行時(shí)間,如和理想狀態(tài)有出入,則可以通過(guò)故障分析確定主要的故障模式和發(fā)生的原因,進(jìn)而采取改進(jìn)措施。而物理性質(zhì)的振動(dòng)試驗(yàn)或撞擊試驗(yàn)則主要表現(xiàn)為產(chǎn)品在運(yùn)輸或使用過(guò)程中的可靠性試驗(yàn),檢驗(yàn)電子產(chǎn)品結(jié)構(gòu)方面的硬件配置精度和強(qiáng)度。