布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500 參考價(jià)：面議
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布魯克HysitronTS77 Select納米壓痕儀 參考價(jià)：面議
布魯克HysitronTS77 Select納米壓痕儀Hysitron TS 77 精選是自動(dòng)化臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測(cè)試系統(tǒng)，可提供同類儀器的高性能、多功能和...
DEKTAK XT布魯克臺(tái)階儀/表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
DEKTAK XT布魯克臺(tái)階儀/表面輪廓儀臺(tái)階儀主要用于材料表面的2D，3D測(cè)量，可以測(cè)試臺(tái)階高度，表面粗糙度；同時(shí)也適合材料表面溝槽深度的測(cè)試；能夠在微電子，...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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