一、LEICA-DM2700M顯微鏡用途：

該顯微鏡可直觀檢測屬材料的微觀組織，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脫碳層、涂層膜厚及氧化膜厚度、氮化層及焊接、冷加工、鑄造、鍛造、熱處理等等不同狀態(tài)下的組織組成，從而判斷材質(zhì)優(yōu)劣。須進(jìn)行樣品制備工作，圖像分析系統(tǒng)由相顯徽鏡和CCD攝像頭、計算機、打印機、圖像分析軟件組成的光學(xué)成像系統(tǒng)，是對材料進(jìn)行定量相研究的強有力工具，也是日常相檢驗的好幫手，當(dāng)產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)異常或相組織處于合格與不合格之間而無法判別時，則可以借助圖像分析儀對其進(jìn)行定量分析，得出準(zhǔn)確結(jié)果，確保產(chǎn)品質(zhì)量。圖像分析儀在相分析中的應(yīng)用，拓展了相檢驗的檢測項目，促進(jìn)了檢測水平的提高，對于提高檢測人員的素質(zhì)也是十分有益的。

應(yīng)用領(lǐng)域：

1、鋼鐵樣品

相分析；晶粒度、夾雜物檢驗、灰鑄鐵、球墨鑄鐵檢驗、硬質(zhì)合檢驗。

2、有色屬及合樣品

合相分析；晶粒度、夾雜物檢驗。

3、各種屬材料（仿制前）解剖

材料成分、熱處理狀態(tài)。

4、表面處理鍍（涂）層檢驗

表面處理鍍（涂）層厚度、表面粗糙度、鍍（涂）層孔隙率。

5、屬焊接接頭檢驗

焊縫中心區(qū)、熱影響區(qū)、基體組織檢驗。

6、各種屬零部件斷裂失效原因分析

7、火災(zāi)事故的相分析與鑒定

二、設(shè)備整體技術(shù)參數(shù)介紹：

項目名稱：*臺相顯微鏡---DM2700M

（1） 光學(xué)系統(tǒng)：際標(biāo)準(zhǔn)的 HC無限遠(yuǎn)復(fù)消色差色差校正及反差增強型光學(xué)系統(tǒng)，達(dá)到大通光率、均勻性和佳校正率。*消除雜散光等干擾因素，提供高反差、高襯度、高分辨率的銳利圖象。并使用際標(biāo)準(zhǔn)齊焦距離45mm。光學(xué)部件鍍膜還具有防霉功能，是真正意義的ISO14001環(huán)保產(chǎn)品，使用過程中防止長霉。

（2） 物鏡：32mm孔徑明暗場物鏡，擁有*的分辨率和極其*的襯度。放大倍數(shù)： 50x-1500x可選。

（3） 目鏡：寬視場三目觀察，10x/22高眼點，帶曲光度目鏡，配置預(yù)裝10/100測微尺。觀察視域大而舒適。雙目觀察鏡筒為鉸鏈?zhǔn)剑埸c高低可調(diào)。調(diào)眼距時，應(yīng)能保證目鏡齊焦55mm-77mm。

（4） 三目觀察筒：100/50/0三檔分光觀察筒 ，可進(jìn)行目鏡與顯示器的同步觀察和操作。

（5） 支架：全屬機身。三齒輪對焦裝置，粗、中、細(xì)三級同軸調(diào)焦。并配置嵌入式調(diào)焦限位裝置。

（6） 觀察方式：反射光照明器具有4位的功能轉(zhuǎn)換器，具有明場、暗場觀察方式。具備預(yù)留功能位置，便于日后升級.功能轉(zhuǎn)換方便，增減功能操作簡捷。

（7） 配置顏色編碼光圈輔助裝置（CCDA），使得物鏡與孔徑光圈*結(jié)合，達(dá)到優(yōu)化的分辨率和對比度。

（8） 配置斜照明裝置，一鍵式操作，快速查看樣品表面特點。

（9） 機械載物臺：配置大型手動橋式載物臺,表面陶瓷高科技涂層，內(nèi)置可調(diào)節(jié)載物臺高度定位器，保護(hù)您的樣本和物鏡。承重大于10KG，移動范圍：76mmX50mm。

（10） LEICA-DM2700M顯微鏡配有原廠300萬像素非插值工業(yè)數(shù)字?jǐn)z像頭及原廠光學(xué)接口，在計算機控制下實時采集，同步捕捉圖像。

（11） 研究級科勒照明系統(tǒng)高強度高分辨率LED冷光源，4500K恒定色溫；保證提供足夠照明，達(dá)到統(tǒng)一和可恒定的佳對比度和襯度終得到高質(zhì)量圖像，減少人為誤差。光源壽命35000小時以上。

（12） 安裝濾色片系統(tǒng)，配置日光矯正、灰色衰減、彩色濾光及隔熱濾片；目鏡測微尺10/100和臺尺1/100mm用于長度等的測量及定標(biāo)。

（13） 顯微相專業(yè)分析軟件：內(nèi)置大量GB/JB等分析標(biāo)準(zhǔn)；層深長度測量；相含量測量；提供大量標(biāo)準(zhǔn)圖譜比照分析；內(nèi)置GB/ISO/ASTM晶粒度光學(xué)尺評級；內(nèi)置GB/ISO/ASTM/DIN/JIS夾雜物光學(xué)尺評級；內(nèi)置GB/ISO/ASTM鑄鐵分析光學(xué)尺；支持相照片定倍打印、相照片批量蓋戳；個性化分析報告模板設(shè)計；內(nèi)嵌EFI/MIA/3DView功能；影像測量。