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    專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由原安捷倫Agilent技術(shù)工程師——堅(jiān)JET和泰克Tektronix用戶工程師——融YOO于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測(cè)試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。

慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)HAST-S(Highly Accelerated Stress Tester)

加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。 

注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))

智能型排氣設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性

長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí)超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間

內(nèi)建USB2.0&磁盤驅(qū)動(dòng)器數(shù)字記錄器儲(chǔ)存接口創(chuàng)新USB2.0儲(chǔ)存接口

箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg tank耐壓設(shè)計(jì)

二段式壓力安全保護(hù)裝置采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置

安全保護(hù)排壓鈕緊急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕

直立式全彩觸控控制系統(tǒng)

  控制系統(tǒng)通過(guò)EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證

  直立式全彩液晶TFT,簡(jiǎn)/繁/英文顯示器

  0. 01℃ / 0.1% RH精確解析能力 

  9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間

  150 program x 100 step 程序記憶容量 

  USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄 

  12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口 

  全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng) 

  High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈 

  溫度范圍105℃～132℃

  濕度范圍：75%~100% / 105 ℃~132 ℃

慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)HAST-S規(guī) 格(SPECIFICATION)

內(nèi)箱尺寸(Inside dimensions (W．D．H) cm) φ22 X 33(L) (cm)

外箱尺寸(Outside dimensions (W．D．H) cm) 65 X 90 X 63 (W*D*H)

內(nèi)容積(Inside capacity) / 公升(Liter) 12L

內(nèi)箱材料(Internal material) 不銹鋼#316

外箱材料(External material) SECC

溫度范圍(Temperature range) 105℃～132℃

濕度范圍(Humidity Range)75%~100% / 105 ℃~132 ℃

溫度分布均勻度(Temperature uniformity ℃) ±1.0 ℃

濕度分布均勻度(Humidity uniformity %RH) ±5 %

溫度穩(wěn)定度(Temperature stability ℃) ± 0.3 ℃

主要裝置(MAJOR DEVICE)

結(jié)構(gòu) (Structure) 標(biāo)準(zhǔn)壓力容器

加濕系統(tǒng)(Humidification system) 電熱管

加濕給水系統(tǒng)(Humidification water supply) 手動(dòng)加水

控 制 器(Controller) IPC Baces Touch Panel

鏈接庫(kù)編輯 150組程序

電壓(V) 220V～240V 50/60Hz單相

高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)(Highly Accelerated Stress Tester-HAST)

加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等)，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來(lái)確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。 

注意事項(xiàng)：USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))

  中華鍋爐協(xié)會(huì)壓力容器安全檢查合格

  圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)品

  馬達(dá)驅(qū)動(dòng)磁性風(fēng)扇機(jī)構(gòu)循環(huán)(溫度 / 濕度分布均勻佳)

  安全程序自動(dòng)停機(jī),自動(dòng)泄壓,自動(dòng)破真空,自動(dòng)給水

  HAST設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304

  圓型測(cè)試槽與安全門環(huán)扣結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 

  電磁風(fēng)扇馬達(dá)循環(huán)裝置濕度分布均勻 

  本體與主要進(jìn)水管件SUS#316 材質(zhì)

  時(shí)序插座與BIOS 純銀導(dǎo)線20 PIN 

  飽和或不飽和可程控模式 

  溫度 / 濕度 / 濕球 / 溫度 / 壓力 / 電壓顯示

  相容于CM BUS遠(yuǎn)程監(jiān)控管理系統(tǒng) 

慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)KHS-A

Internal Dimension*L cm 40*40(50L)

External Dimension W*D*H cm 115*115*167

Circulated Method Magnet drive circulating fan system

（Temp./Hemidity superior uniformity）

  Temperature Range 105℃﹏143℃

Humidity Range 75％~100％／105℃~143℃

Heating Time Rt~130℃  85％（100 min）

Temperature Uniformity ± 1.0℃