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更新時(shí)間:2023-10-18 16:00:29瀏覽次數(shù):686次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)X射線鍍層測(cè)厚儀XDLM-PCB200/210/220
X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD
袖珍式儀器,簡(jiǎn)便、快速、無(wú)損地在幾乎所有金屬上(或只在鐵/鋼上)測(cè)量涂層厚度;
利用符合DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)的電渦流感應(yīng)方法,可測(cè)量油漆、纖維或氧化膜涂層在非磁性金屬材料上的厚度;
利用符合DIN EN ISO 2178標(biāo)準(zhǔn)的電磁場(chǎng)感應(yīng)方法,可測(cè)量鋅、銅、鉻、油漆、光油、纖維等涂鍍層在鋼或鐵的材料上的厚度。
項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
測(cè)量范圍 | 0~2000μm |
精度 | 0.5μm~0μm: ≤±2μm |
50μm~1000μm: ≤ 3% | |
1000μm~2000μm: ≤5% | |
最小測(cè)試面積 | ¢4mm |
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