目錄:北京菲斯泰克科技有限公司>>在線分析儀>> NEX LS 掃描多元素在線圖層分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,綜合 |
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NEX LS采用*的第三代能量色散X射線熒光(EDXRF)技術(shù)，代表了用于卷材或卷材應(yīng)用的掃描多元素在線涂層分析儀的下一次發(fā)展。
在線實時涂層重量分析
測量元素鋁(AI)到鈾(U)
NEX系列光學(xué)內(nèi)核
工業(yè)觸摸屏用戶界面
為了提供桌越的分析性能和可靠性，EDXRF測量頭組件源自已建立的NEX系列高分辨率臺式儀器。憑借其成熟的技術(shù)，Rigaku NEX LS可對從鋁(Al)到鈾(U)的元素進(jìn)行快速、無損的多元素分析，包括涂層重量、涂層厚度和/或成分。
Rigaku NEX LS是專為服務(wù)網(wǎng)絡(luò)和線圈應(yīng)用，有能力執(zhí)行多元素組成，涂層重量或涂層厚度。測量頭安裝在剛性梁上，并配有位于滾輪上方的線性移動機(jī)構(gòu)，因此測量頭至表面的距離是恒定的。在需要的地方，涂層的元素組成被直接測量。相反，涂層重量(或涂層厚度)可以直接測量(其中元素計數(shù)率與厚度成比例)或通過測量一些基底元素的衰減間接測量(其中計數(shù)率與厚度負(fù)相關(guān))。
臺式EDXRF光譜儀長期以來一直是防粘涂層、轉(zhuǎn)換器、真空成型塑料制造商和其他使用硅油作為阻擋層、防粘涂層或去嵌套劑的行業(yè)所熟悉的技術(shù)。實時掃描，更嚴(yán)格的過程控制公差，將EDXRF硅涂層分析技術(shù)推向了一個新的高度。硅涂層應(yīng)用于塑料和紙質(zhì)基材，以改變產(chǎn)品(如標(biāo)簽)或包裝的釋放特性。如果施加的硅氧烷太少，或者如果纖維網(wǎng)的某些區(qū)域缺少硅氧烷涂層，則在剝離應(yīng)用中粘合劑的剝離性能將受到不利影響，或者真空成型塑料的脫模特性將受到損害，從而導(dǎo)致制造和其它下游工藝中的產(chǎn)品不合格或中斷。如果使用太多的硅樹脂，制造的卷的成本會增加，降低利潤，并且在某些情況下會影響最終產(chǎn)品的接受度和性能。
硅酮釋放涂布機(jī)
轉(zhuǎn)換器-塑料或紙上的硅膠
真空成型塑料——脫套硅樹脂涂層
特種塑料
轉(zhuǎn)化涂層
金屬化塑料
金屬卷材上的面漆
織物上的阻燃劑
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