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Genius IF-Genius IF SDD / LE臺式EDXRF光譜儀
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點擊：
- 2024年11月21日
- 2025年5月21日
- 上海上海市
- 美國
- 476次
【產(chǎn)品簡介】
*的結(jié)構(gòu)結(jié)合了8個二次靶和8個定制的光管濾光片，快速精確地測定微量元素。
*的計數(shù)率和分辨率的硅漂移探測器（SDD），分辨率低至123eV，并有輕元素優(yōu)化探測器可選。
【詳細(xì)說明】
Genius IF
SDD / LE
具有二次靶激發(fā)模式的臺式EDXRF光譜儀
Ø 優(yōu)化輕元素檢測
Ø 硅漂移探測器
Ø 定性和定量元素分析
Ø 快速無損分析方法
Ø 微量元素分析
【特點】
- 無損元素分析范圍從C(6)—Fm(100)，含量范圍從次PPM—*。
- *的結(jié)構(gòu)結(jié)合了8個二次靶和8個定制的光管濾光片，快速精確地測定微量元素。
- *的計數(shù)率和分辨率的硅漂移探測器(SDD)，分辨率低至123eV，并有輕元素優(yōu)化探測器可選。
- 8/16位的樣品盤
- 強大的軟件分析包
Genius IF
Xenemetrix的Genius IF（二次靶）EDXRF光譜儀為目前的元素分析市場提供高性價比的解決方案。
該分析儀可進(jìn)行無損定性和定量分析，其分析范圍從C(6)—Fm(100)，含量范圍從次ppm-*。
Genius IF有著功能強大的組成部分：
- 集成電腦系統(tǒng)。
- 高分辨率硅漂移探測器。
- 高功能X射線光管，檢測光斑尺寸可變，專為適應(yīng)多尺寸的樣品而設(shè)計。
- 8個二次靶和8個定制的光管濾光片，快速精確地測定微量元素。
Genius IF也可以傳統(tǒng)的直接激發(fā)模式。這個小型的光譜儀可置于傳統(tǒng)的實驗臺上，也適用于移動實驗室—鑒于其堅固的設(shè)計。
同事，它也符合沖擊試驗的MIL 810E規(guī)格。
硅漂移探測器（SDD）：高計數(shù)率，高分辨率（低至123eV）和快速的反應(yīng)時間，大大節(jié)約了操作時間。
SDD LE：超薄探測器窗為低原子序數(shù)元素的分析提供了更*的性能。
重要應(yīng)用
應(yīng)用范圍包括分析：
- 石油化工
- 聚合物
- 冶金樣品
- 合金
- 環(huán)境
- 石油，燃料，柴油&液體
- 礦業(yè)和地質(zhì)（含稀土元素）
- 法鑒
- 鑒定&貴金屬
- 藥學(xué)與生物醫(yī)學(xué)
二次靶
Genius IF有著結(jié)構(gòu)，由8個二次靶和8個定制的光管濾管片相結(jié)合，在直接激發(fā)模式中使用，*激發(fā)所有在EDXRF中能檢測的元素。
WAG（廣角結(jié)構(gòu)）的二次靶技術(shù)能*地分析大量，少量及微量元素。
X射線管激發(fā)的二次靶（純元素）K特征線，以做到“單色”激發(fā)樣品。
使用二次靶可以*的降低某些元素的檢出限。
極低的檢出限使得Genius IF應(yīng)用更為廣泛，使其能進(jìn)入傳統(tǒng)EDXRF無法使用的領(lǐng)域，成為zui多功能元素分析儀。