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8月18日 網(wǎng)絡講堂 | X射線分析的應用方向及RoHS檢測
研討會介紹
在本次網(wǎng)絡課程中,您將了解到日立EA1400型X射線熒光分析儀的諸多解決方案及應用。其中包括輕元素檢測,凹面樣品檢測,細小異物檢測,鍍層厚度檢測等功能。在有效提高檢測能力的同時,高速自動進樣器也提高了檢測效率。其將幫助您在日常工作中,無論是對應RoHS篩選或其它無損化檢測需求都能得心應手。
會議主題:X射線分析的應用方向及RoHS檢測
會議時間: 2022-08-18 14:00
主辦單位:日立分析儀器(上海)有限公司
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我們的講師
潘爾超
應用技術(shù)&實驗室負責人
15年相關(guān)行業(yè)從業(yè)經(jīng)驗,活躍于儀器分析與第三方檢測行業(yè)。先后任職SGS、SEIKO Nano、日立分析儀器(上海)有限公司。長期從事X射線熒光檢測,XRF鍍層測厚分析,等離子發(fā)射光譜等應用技術(shù)工作。
參會指南
一、參會條件
1、免費報名無需任何差旅費用只需要一臺電腦或一部手機,網(wǎng)絡帶寬超過128K。
2、報告專家PPT講解將實時傳送給所有參會者,參會者也可通過文字向報告人提問,報告人在報告結(jié)束后統(tǒng)一進行解答。
二、參會方式(手機電腦均可參會)
1、報名參會并通過審核后,您將會收到郵件通知,并在會前一天收到提醒參會的短信通知。
2、會議當天進入儀器信息網(wǎng)網(wǎng)絡講堂首頁,點擊“進入會場",填寫報名時手機號,即可登錄會場參會。