隨時掌握行業(yè)動態(tài)
網絡課堂 行業(yè)直播
手機訪問更快捷
更多流量 更易傳播
產品
UNICO/尤尼柯 ThetaMetrisis 其他品牌
在線詢價
FPTHE-FR-Thermal聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀PX 4176
FRANG-SR500進口光學膜厚儀PX 4176
NH-3Ns光點自動對焦3D形狀高精度測量機PX 1456
MLP-3自動對焦3D形狀高精度測量機PX 1456
PF-60點自動對焦表面形狀高精度測量機PX 1456
SENTECH SENDIRA薄膜計量紅外光譜橢圓儀PX 1900
SENTECH SENpro薄膜計量橢圓光譜儀PX 1900
SENresearch 4.0薄膜計量橢圓光譜儀PX 1900
SENTECH SE 500adv薄膜計量激光橢圓儀PX 1900
FTPadv Expert薄膜計量光譜反射儀軟件PX 1900
FTPadv薄膜計量膜厚探頭PX 1900
RM 1000/RM 2000薄膜計量光譜反射儀PX 1900
FRANG-SR500光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀PX 4176
FRANG-SR100光學薄膜測厚儀PX 4176
NS200臺階輪廓儀PX 4956
WD4000晶圓表面形貌參數測量儀PX 4956
WD4000亞納米分辨率晶圓幾何量測系統(tǒng)PX 4956
SuperViewW1芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀PX 4956
WD4000晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 4956
WD4000晶圓形貌測量設備PX 4956
WD4000半導體量檢測設備PX 4956
WD4000晶圓測量設備幾何形貌測量系統(tǒng)PX 4956
WD4000晶圓厚度高精度測量系統(tǒng)PX 4956
WD4000無圖晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)PX 4956
WD4000半導體晶圓量測設備PX 4956
HM3-50納米級非接觸共焦測厚儀PX 0
HM-A300全自動非接觸光學薄膜厚膜檢測設備PX 0
HM-260AL光學全自動在線流延膜厚測試儀PX 0
SM230自動光學薄膜厚度掃描測繪儀PX 3258
SM200系列光學薄膜厚度測量儀PX 3258
FR-portable便攜式光學膜厚儀PX 3258
FR-uProbe微米級光學薄膜測厚儀PX 3258
HM-S100非接觸光學半自動薄膜厚膜檢測設備PX 0
WD4000半導體晶圓表面形貌檢測設備PX 4956
VT6100共焦顯微鏡測量儀PX 4956
WD4000晶圓表面形貌測量設備PX 4956
日本 Toho FLX-2320系列薄膜應力測試儀PX 0
QUASAR-R100系列反射式膜厚儀PX 0
MKF1-KW2-20036+428德國福鳥VOGEL測量儀常規(guī)型號現貨PX 0
SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀PX 0
薄膜生長設備
工藝測量和檢測設備
集成電路測試與分選設備
光刻及涂膠顯影設備
熱工藝設備/熱處理設備
硅片制備/晶體生長設備
掩模版和中間掩模版制造設備
離子注入設備
干法工藝設備
濕法工藝設備
組裝與封裝設備
其它半導體行業(yè)儀器設備
晶圓微觀三維形貌測量系統(tǒng)
晶圓微納幾何三維形貌測量系統(tǒng)
晶圓微納三維形貌量測系統(tǒng)
晶圓細磨硅片粗糙度測量系統(tǒng)
半導體晶圓厚度量測系統(tǒng)
進口光學膜厚儀
聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀
光學鍍膜檢測儀
臺階輪廓儀
芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質譜
上海平軒科學儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經營許可證
互聯網藥品信息服務資格證書
醫(yī)療器械網絡交易服務第三方平臺備案憑證
ICP備案號:浙B2-20100369
浙公網安備 33010602000006號
服務咨詢:0571-87759922
采購服務:13073662630(微信同號)
展會合作:0571-87759900
投訴熱線:0571-87858619
友情鏈接:0571-87858618
化工儀器網APP
儀器優(yōu)選APP
微信公眾號
采購中心
請選擇參數!