EDX Thick 800 X熒光鍍層測(cè)厚儀器鍍層行業(yè)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 深圳市藝慈儀器有限公司
- 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
- 型號(hào) EDX Thick 800
- 產(chǎn)地 江蘇
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/9/5 11:47:14
- 訪問(wèn)次數(shù) 429
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RoHS檢測(cè)儀，RoHS光譜分析儀，RoHS2.0檢測(cè)儀器，測(cè)厚儀，金屬合金元素分析儀，不銹鋼牌號(hào)檢測(cè)儀器，ROHS檢測(cè)儀器、rohs檢測(cè)儀、元素分析儀、x熒光光譜儀、液相色譜儀、分光光度計(jì)、X射線熒光光譜儀(XRF)、手持式便攜式礦石分析儀、古董鑒定儀、玩具安全檢測(cè)儀、鹵素ROHS檢測(cè)儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、原子熒光光譜儀、氣相色譜儀、液相色譜等
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子,汽車,電氣 |
產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置
EDXThick800是一款全新上照式多功能自動(dòng)微區(qū)X熒光膜厚測(cè)試儀,既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析;搭載自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng),可多點(diǎn)位編程測(cè)試,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。
01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)
05 Fast-SDD探測(cè)器
06 雙激光定位裝置
07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直孔和濾光片
軟件優(yōu)勢(shì)
1、清晰化操作界面布局
簡(jiǎn)約的布局設(shè)計(jì),讓操作員快速的掌握軟件基本操作。
2、快捷鍵按鈕設(shè)計(jì)
增加了日常鍍層測(cè)量快捷鍵設(shè)計(jì)按鈕,可快速檢測(cè),提升工作效率。
3、高清可視化窗口
可清晰直觀的觀測(cè)到被檢測(cè)樣品的狀態(tài),通過(guò)自動(dòng)對(duì)焦、移動(dòng)快捷鍵,調(diào)節(jié)到用戶觀測(cè)效果。
4、多通道數(shù)字譜圖界面
清晰化呈現(xiàn)被檢樣品的元素譜圖,配合先進(jìn)的解譜技術(shù),便可精準(zhǔn)計(jì)算出結(jié)果。
5、測(cè)試結(jié)果匯總布局設(shè)計(jì)
可快速查找當(dāng)前測(cè)試數(shù)據(jù),并可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行報(bào)告生成,且快速查詢以往測(cè)試數(shù)據(jù)。
應(yīng)用行業(yè)
航天新能源
電子通訊
電鍍行業(yè)
高校及科研院
貴金屬鍍飾
磁性材料
01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)
05 Fast-SDD探測(cè)器
06 雙激光定位裝置
07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直孔和濾光片
軟件優(yōu)勢(shì)
1、清晰化操作界面布局
簡(jiǎn)約的布局設(shè)計(jì),讓操作員快速的掌握軟件基本操作。
2、快捷鍵按鈕設(shè)計(jì)
增加了日常鍍層測(cè)量快捷鍵設(shè)計(jì)按鈕,可快速檢測(cè),提升工作效率。
3、高清可視化窗口
可清晰直觀的觀測(cè)到被檢測(cè)樣品的狀態(tài),通過(guò)自動(dòng)對(duì)焦、移動(dòng)快捷鍵,調(diào)節(jié)到用戶觀測(cè)效果。
4、多通道數(shù)字譜圖界面
清晰化呈現(xiàn)被檢樣品的元素譜圖,配合先進(jìn)的解譜技術(shù),便可精準(zhǔn)計(jì)算出結(jié)果。
5、測(cè)試結(jié)果匯總布局設(shè)計(jì)
可快速查找當(dāng)前測(cè)試數(shù)據(jù),并可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行報(bào)告生成,且快速查詢以往測(cè)試數(shù)據(jù)。
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