KM-YMJ 葉面積分析測(cè)量?jī)x
- 公司名稱 杭州科銘光電科技有限公司
- 品牌 科銘光電
- 型號(hào) KM-YMJ
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/17 7:53:26
- 訪問(wèn)次數(shù) 246
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,農(nóng)業(yè),綜合 |
葉面積分析測(cè)量?jī)x技術(shù)參數(shù):
1、配大景深的1200萬(wàn)像素拍攝儀、>10000mAH的5V移動(dòng)電源輔助背光源板,可野外背光照明3小時(shí)。標(biāo)配的測(cè)量面積380*265mm,自動(dòng)標(biāo)定和自動(dòng)圖像校正。
2、可拍照與分析一鍵化操作,同時(shí)分析多片葉的葉面積、周長(zhǎng),葉長(zhǎng)、葉寬,矩形度,凹凸比,球狀性,形狀系數(shù),蟲洞數(shù)量,蟲損和蟲洞葉面積,以及單葉的葉孔洞、形狀系數(shù)、鋸齒數(shù)、葉柄長(zhǎng)寬等參數(shù),并標(biāo)記葉片邊緣以便核對(duì)正確性。
3、可分析小至1mm ^2的葉片,分析誤差<±0.5%、測(cè)量中的分析時(shí)間<2秒,自動(dòng)獨(dú)立標(biāo)記各葉片并可保存圖,分析結(jié)果可輸出至Excel表。
4、可自動(dòng)測(cè)定非相碰的稻谷、小麥、瓜子等普通種子的各粒粒長(zhǎng)、粒寬、投影粒面積。
葉面積分析測(cè)量?jī)x標(biāo)準(zhǔn)配置:
1、葉面積分析儀系統(tǒng)軟件U盤及軟件鎖1套
2、1200萬(wàn)像素拍攝儀1臺(tái)
3、超薄背光燈板1套