KM-DM2 大米外觀品質(zhì)分析儀(高級)
- 公司名稱 杭州科銘光電科技有限公司
- 品牌 科銘光電
- 型號 KM-DM2
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/12/16 20:53:19
- 訪問次數(shù) 565
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 臺式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,農(nóng)業(yè),綜合 |
大米外觀品質(zhì)分析儀(高級)用于各種類大米(精米、糙米、糯米等)、黑米各項(xiàng)外觀品質(zhì)指標(biāo)的精準(zhǔn)自動檢測,可進(jìn)行多參數(shù)、批量化的自動分析。
大米外觀品質(zhì)分析儀(高級)主要技術(shù)指標(biāo)
1、配光學(xué)分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像。透掃幅面30 cm×20 cm,最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
2、可自動一次性測量分析30g以上大米樣品的:堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數(shù)量、整精米率、可直接檢測大米透明度的國標(biāo)等級、黃粒米、大米顏色黃度指數(shù)和大米白度測定、雜質(zhì)量、異品種粒、不完善粒(未成熟粒),及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的裂紋率,糙米胚芽率。
3、自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑(長度測量誤差≤±0.05mm,長寬比測量誤差≤±0.05,重現(xiàn)性誤差≤±0.02;整精米率、碎米率指標(biāo)測量誤差≤±1.0%、重現(xiàn)性誤差≤±0.25%)。
4、可自動一次性測量分析30g以上黑米樣品的:黑色度、黑米率、整黑米率、碎米率及小碎米率,符合NY/T 832-2004標(biāo)準(zhǔn)中相關(guān)這幾項(xiàng)的檢測指標(biāo)。
5、可大批量自動分析處理與輸出結(jié)果。
6、具有自動學(xué)習(xí)與識別特性,可自動分割粘連的大米、種粒,可做自動分類分析。
7、各分析圖像、分布圖、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存,分析結(jié)果輸出至Excel表,可輸出分析標(biāo)記圖,以及按寬度、長度、面積等輸出的排列圖和測量圖。
8、具有樣本條碼、電子天平RS232數(shù)據(jù)軟件接口。可兼測的種粒范圍0.25-20mm,自動數(shù)粒精度≥99%。
9、儀器有云平臺支持,可將分析數(shù)據(jù)保存到云端隨時(shí)隨地查看。
標(biāo)準(zhǔn)配置
1、大米外觀品質(zhì)檢測分析儀系統(tǒng)軟件U盤及軟件鎖1套
2、光學(xué)分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀1臺
3、鋪米器1副
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