德國菲希爾 XRF能量色散X射線熒光分析儀

您的需求是我們的動(dòng)力–Fischer XRF測量技術(shù)的好處一目了然

我們有您需要的：在X射線熒光分析（XRF分析）領(lǐng)域擁有多年的綜合專業(yè)知識！您將獲得最佳解決方案，尤其是針對您的測量任務(wù)–我們承諾！

FISCHER的XRF測量原理–其工作原理如下：

XRF能量色散X射線熒光分析儀 快速、簡單、無損-這是采用Fischer XRF測量技術(shù)的XRF分析代表的意義！X射線束使測量樣品中的原子電離。探測器檢測發(fā)生的熒光輻射，內(nèi)部開發(fā)的軟件處理信號。

設(shè)置FISCHER XRF測量儀器–這就是獲得最佳測量結(jié)果的方式：

必須注意細(xì)節(jié)：衡量成功與否與每個(gè)組成部分都息息相關(guān)！

X射線管和陽極材料：
小零件，有大影響！XRF設(shè)備的“心臟”，即X射線發(fā)生器，由一個(gè)帶有鎢、銠、鉬或鉻陽極的標(biāo)準(zhǔn)或微聚焦射線管組成。這些部件決定了達(dá)到哪種測量精度和哪種能譜。

濾波器：
只有必要的東西才能通過：X射線束通過濾波器，以降低相關(guān)能量范圍內(nèi)的背景噪聲，從而對來自僅以低濃度存在的材料的信號實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度。

孔徑和X射線光學(xué)元件：
菲舍爾的聚焦！作為全球僅有的兩家多毛細(xì)管光學(xué)器件的制造商之一，我們能夠?qū)⒋蟛糠殖跫壿椛浼性谝粋€(gè)微小的測量點(diǎn)上。

 探測器：

只有在Fischer，您可以選擇3種不同的探測器類型，以實(shí)現(xiàn)測量任務(wù)的最佳解決方案：比例計(jì)數(shù)管、硅PIN二極管和硅漂移探測器。

X射線熒光分析的基礎(chǔ)和最重要的儀器性能在過去，

X射線熒光分析（XRF）主要用于地質(zhì)學(xué)。如今，它已成為工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的關(guān)鍵技術(shù)。這種方法非常通用：它可以檢測從鈉到鈾的所有相關(guān)化學(xué)元素

XRF通常用于材料分析，即確定樣品中給定物質(zhì)的含量，如測量珠寶中的黃金含量或根據(jù)《有害物質(zhì)限制》（RoHS）指令檢測日常物品中的有害物質(zhì)。此外，可以使用XRF測量鍍層的厚度：它快速、環(huán)保且無損。這就是測量是如何進(jìn)行的當(dāng)X射線設(shè)備開始測量時(shí)，X射線管會(huì)發(fā)出高能輻射，這也被稱為‘初級’輻射。當(dāng)這些X射線擊中樣品中的一個(gè)原子時(shí)，它們會(huì)增加能量–即它們“激發(fā)”原子 - 使原子向其原子核附近發(fā)射電子，這個(gè)過程被稱為“電離”。由于這種狀態(tài)是不穩(wěn)定的，一個(gè)來自更高電子層的電子移動(dòng)來填充空隙，從而發(fā)射出“熒光”輻射。

這種二次輻射的能量水平類似指紋一樣：它是每個(gè)元素的特征。探測器接收熒光并將信號數(shù)字化。在信號經(jīng)過處理后，設(shè)備產(chǎn)生一個(gè)光譜：檢測到的光子的能級在x軸上繪制，其頻率（計(jì)數(shù)率）在y軸上繪制。樣品中的元素可以從光譜中波峰的位置（x軸方向）來識別。這些峰的水平（y軸方向）提供了有關(guān)元素濃度的信息。