EscaLab QXi X射線光電子能譜儀
- 公司名稱 博納科儀器(上海)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/5/20 14:28:20
- 訪問次數(shù) 379
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儀器種類 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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Thermo Scientific™ EscaLab QXi X射線光電子能譜儀是ESCALAB 系列產(chǎn)品。作為可擴(kuò)展的多技術(shù)表面分析平臺(tái),ESCALAB QXi有著靈活性和完備的專業(yè)配置選項(xiàng)。匯聚前沿技術(shù),打造出高效便捷的軟件系統(tǒng),高性能的硬件配置,高效的生產(chǎn)力。強(qiáng)大的Thermo ScientificTM AvantageTM 軟件系統(tǒng)集系統(tǒng)控制、設(shè)備狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控與調(diào)節(jié)、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、報(bào)告生成等多功能于一身,操作便捷,快速高效。
EscaLab QXi X射線光電子能譜儀分析性能:
● 表面元素定性、定量分析
能量分析器設(shè)計(jì)和雙晶微聚焦單色化X射線源結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了能量分辨率
● 快速高分辨平行成像
化學(xué)成像: 空間分辨率優(yōu)于1um
回溯成譜: 回溯區(qū)域優(yōu)于6um
● 無需背底修正探測(cè)器
電子倍增器和電阻陽極探測(cè)器的雙探測(cè)器設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)高性能的XPS采譜和高空間分辨的XPS成像的需求。
空間連續(xù)的電阻陽極探測(cè)器創(chuàng)新技術(shù),使得XPI成像分辨率達(dá)1um,同時(shí)所得數(shù)據(jù)無探測(cè)器背底特征,無需背底校正,直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像結(jié)果。
● 微聚焦單色源
分析尺寸在20μm~900μm之間連續(xù)可調(diào)
靈敏度和能量分辨率
提供不少于20個(gè)靶材工作點(diǎn),確保儀器終身使用過程中陽極靶無需更換
● 自動(dòng)化高效離子剖析源
新型Ar離子團(tuán)簇與傳統(tǒng)單粒子離子源相結(jié)合,用于各類材料的深度剖析研究
● 高精確度角分辨XPS
軟件控制分析位置和角度,確保數(shù)據(jù)的精確性和重復(fù)性
全套的ARXPS數(shù)據(jù)處理工具,可對(duì)納米尺度的多層結(jié)構(gòu)器件進(jìn)行層厚計(jì)算
● 一鍵式荷電補(bǔ)償
配有雙束電荷中和系統(tǒng),可以根據(jù)實(shí)際樣品的需要獨(dú)立控制開啟。
適用于所有不導(dǎo)電樣品及粗糙表面的荷電中和
● 強(qiáng)大的Avantage分析軟件
全數(shù)字化儀器控制
系統(tǒng)軟件可視化操作
全套XPS標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)圖庫以及化合物結(jié)構(gòu)鑒定數(shù)據(jù)庫
自定義數(shù)據(jù)采集到報(bào)告生成模式
操作簡便:
● 高度自動(dòng)化
分析區(qū)域和角度分辨可選
自動(dòng)化氣體調(diào)節(jié)和真空控制
● 隨時(shí)校準(zhǔn)
能量標(biāo)尺和儀器功函數(shù)的校準(zhǔn)
離子槍定位和離子束聚焦
● 鼠標(biāo)點(diǎn)擊式樣品導(dǎo)航
實(shí)時(shí)顯示分析位置
高照明強(qiáng)度、強(qiáng)度可調(diào)
設(shè)計(jì)靈活:
● ISS、ARXPS與REELS為標(biāo)準(zhǔn)配置
● 多功能進(jìn)樣室為標(biāo)準(zhǔn)配置
● UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可選
● 可選的樣品預(yù)處理附件,包括:
樣品制備臺(tái)、晶體清潔器、樣品刮片器
樣品加熱/冷卻裝置
濺射清潔離子槍
蒸發(fā)器
高壓反應(yīng)室