探針冷熱臺(tái) 又可以叫 電學(xué)冷熱臺(tái)，是一款針對研究樣品變溫 電學(xué)測試 而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。

探針冷熱臺(tái)（電學(xué)冷熱臺(tái)） 是在光學(xué)冷熱臺(tái)基礎(chǔ)上，增加了一個(gè)電學(xué)模塊。通過在測試過程中移動(dòng)探針，可以使針尖與樣品表面的任何區(qū)域接觸。電信號通過連接到針座的導(dǎo)線傳輸?shù)絻x器（如源表、萬用表等）進(jìn)行電學(xué)測試，并分析材料在可變溫度下的電學(xué)特性。果果儀器 探針冷熱臺(tái)（電學(xué)冷熱臺(tái)）探針有腔內(nèi)手動(dòng)調(diào)節(jié)、腔內(nèi)電動(dòng)調(diào)節(jié)、腔外手動(dòng)調(diào)節(jié)等不同型號，可以根據(jù)測試需要選擇。電學(xué)冷熱臺(tái)支持定制探針/電學(xué)接口等。

產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實(shí)現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~1500℃（選型）范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制，與其他電學(xué)儀表 （如電橋、源表 、 萬用表）搭配集成，進(jìn)行變溫原位測試。

探針冷熱臺(tái)包含溫度控制器 、 致冷控制器、循環(huán)水等控制系統(tǒng)，使用溫控軟件方便進(jìn)行溫度設(shè)置及采集，并提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進(jìn)行定制化編程。

探針冷熱臺(tái)默認(rèn)為腔室內(nèi)部手動(dòng)調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)，需要放置好樣品，手動(dòng)固定調(diào)節(jié)探針位置，蓋上上蓋然后進(jìn)行相關(guān)測試。

探針冷熱臺(tái)ECH600S

探針冷熱臺(tái)ECH600T

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-190~600℃（選型）/RT~1600℃

2.溫度穩(wěn)定性：±0.1℃/±1.0℃

3.溫度分辨率：0.1℃

4.升降溫速度：0~30℃/min

5.氣密性：氣密腔室設(shè)計(jì)，可升級真空腔室（10^(−3) mBar）

6.ECH600S內(nèi)置4個(gè)磁吸探針，可另外放置測試位置；ECH600T配置四個(gè)固定式鍍金探針和4個(gè)磁吸探針。探針數(shù)量可定制。

超高溫探針熱臺(tái)H1000

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：RT~1000℃（選型）

2.溫度穩(wěn)定性：±0.1℃（<600℃），±1℃（>600℃）

3.升降溫速度：0~30℃/min

電動(dòng)位移探針冷熱臺(tái)是腔室內(nèi)部電動(dòng)調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)，需要放置好樣品后蓋上上蓋，通過上位機(jī)軟件電動(dòng)調(diào)節(jié)探針位置，然后進(jìn)行相關(guān)測試。

電控位移探針冷熱臺(tái)（納米級）

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-190~400℃；

2.納米級控制精度探針；

3.探針位移精度：5nm；

4.XYZ位移行程±6mm；

5.電動(dòng)控制，結(jié)構(gòu)緊湊，適用真空環(huán)境。

外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)可通過外部位移臺(tái)調(diào)節(jié)探針位置，方便測試中隨時(shí)調(diào)節(jié)。外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺(tái)有兩款位移臺(tái)可選擇，2款位移精度和外觀尺寸稍有差異，可以根據(jù)需要選擇。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-190~400℃（可選半導(dǎo)體冷熱方式：-25~120℃）

2.通過外部位移臺(tái)調(diào)節(jié)探針

3.XYZ位移行程±6.5mm

4.探針位移精度：1μm

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.溫度范圍：-25~120℃（可選液氮致冷方式：-190~400℃）

2.通過外部位移臺(tái)調(diào)節(jié)探針

4.XYZ位移行程更大，默認(rèn)配置±6.5mm，可定制，詳情咨詢客服

5.探針位移精度：10μm

6.尺寸更緊湊