掃描探針顯微鏡系統(tǒng)Dimension Edge
性價(jià)比高，大樣品臺(tái)AFM的解決方案

Dimension® Edge™ 原子力顯微鏡采用新技術(shù)， 其儀器性能、測(cè)試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于高水平?；贒imension Icon^®平臺(tái), Dimension Edge系統(tǒng)的整體設(shè)計(jì)使其 具有低漂移、低噪音的特點(diǎn), 大大提高了數(shù)據(jù)獲取速度和可靠性，使用這臺(tái)全新的儀器，幾分鐘時(shí)間即可獲得高質(zhì)量、可發(fā)表的專業(yè)數(shù)據(jù)。這些檢測(cè)性能的提高。此外，視覺反饋集成化和預(yù)配置可選功能輔助用戶獲得更高質(zhì)量的測(cè)量結(jié)果。整套儀器充滿人性化的設(shè)計(jì)，適用于各個(gè)研究階段和科研水平的用戶。
 

掃描探針顯微鏡系統(tǒng)Dimension Edge

閉環(huán)Dimension系列AFM
 
傳感器設(shè)計(jì)既獲得了閉環(huán)的精度，又具有 開環(huán)的噪音水平。
 
顯著地降低噪音和漂移，在大樣品臺(tái)AFM上實(shí)現(xiàn) 了小樣品臺(tái)AFM的成像性能。
 
顯微鏡和電路的設(shè)計(jì)既保證了高成像性能

快速，精確，高分辨的測(cè)量結(jié)果
 
全新的可視化操作界面,整體采用流程式設(shè)計(jì)，確?？焖俸?jiǎn)便的設(shè)定各步驟參數(shù)
 
5百萬像素 的高分辨率相機(jī)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程平臺(tái)，提供快速樣品導(dǎo)航和高效多點(diǎn)測(cè)量
 
從大范圍掃描到高分辨檢測(cè)的無縫過渡 可在短時(shí)間內(nèi)獲得準(zhǔn)確結(jié)果。

適用于任何樣品上的任何應(yīng)用的解決方案

開放式平臺(tái)設(shè)計(jì)可適應(yīng)各種實(shí)驗(yàn)和樣品的需求。
 
新儀器的設(shè)計(jì)和軟件利用了完備的Bruke  AFM掃描模式和檢測(cè)技術(shù)，滿足前沿的應(yīng)用需求。
 
內(nèi)置的信號(hào)路由模塊，幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實(shí)驗(yàn)需求，自定義檢測(cè)模式。