全類(lèi)型 紅外金相顯微鏡芯片隱裂瑕疵紅外無(wú)損檢測(cè)
參考價(jià) | ¥ 100000 |
訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱(chēng) 蘇州銳納微光學(xué)有限公司
- 品牌 Nikon/日本尼康
- 型號(hào) 全類(lèi)型
- 產(chǎn)地
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2023/12/1 15:04:57
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 922
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬(wàn)-30萬(wàn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 | 紅外 | 全波段 |
近紅外檢測(cè)應(yīng)用實(shí)例
§Vcsel芯片隱裂(cracks)、InGaAs瑕疵紅外無(wú)損檢測(cè)
§Vcsel芯片氧化孔徑測(cè)量
§法拉第激光隔離器,Faraday Isolator近紅外無(wú)損檢測(cè)
§die chip 失效分析
§紅外透射Wafer正反面定位標(biāo)記重合誤差無(wú)損測(cè)量
§硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底無(wú)損紅外檢測(cè)
§太陽(yáng)能電池組件綜合缺陷紅外檢測(cè)
n晶圓觀(guān)察完畢后,依次進(jìn)行如下操作:
1. 將物鏡旋轉(zhuǎn)至最小倍率(5X)。
2. 將晶圓從載物臺(tái)下取下。
3. 將載物臺(tái)調(diào)整至中心位置。
4. 關(guān)閉顯微鏡光源。
5. 關(guān)閉顯微鏡電源。
n另外,使用顯微鏡時(shí)需注意如下幾點(diǎn):
1. 物鏡切換時(shí),依次從5X調(diào)整至10X、20X、50X,最后至100X,禁止從5X直接切換為100X。
2. 顯微鏡使用完成,一定要關(guān)閉顯微鏡光源。
3. 其他未介紹的顯微鏡按鈕開(kāi)關(guān)是設(shè)備調(diào)試時(shí)使用,正常情況下禁止使用。